Microscope à balayage laser 3D

Série VK-X

Mesures en champ large

Assemblez facilement des images à haute vitesse et effectuez des mesures en champ large avec WIDE-Scan

Problème 1

Lorsque le champ de vision est réduit, il est difficile d’identifier l’élément observé. Il serait pratique de pouvoir visualiser la zone environnante.

Problème 1

Grande vitesse et haute précision WIDE-Scan Solution

Avec la fonction WIDE, aucune zone de mesure ne vous échappe

Vous souhaitez augmenter le grossissement pour effectuer des observations et des mesures de haute précision. Malheureusement, à mesure que le champ de vision se réduit, il est difficile d’identifier le détail observé. Construisez facilement des images 3D de résolution élevée au grossissement souhaité, grâce à la fonction WIDE-Scan. Le détail observé devient parfaitement identifiable.

Problème 2

Quel que soit l’endroit, les données enregistrées pour les mesures localisées montrent des variations.

Problème 2

Grande vitesse et haute précision WIDE-Scan Solution

En mode de capture WIDE, plusieurs zones peuvent être mesurées et leur moyenne calculée simultanément.

Lorsque la mesure est effectuée sur un petit nombre de zones, les valeurs relevées varient selon l’endroit mesuré. Exécutez la fonction WIDE-Scan et construisez facilement des images 3D de résolution élevée offrant un champ de vision élargi. Vous pouvez ainsi mesurer plusieurs zones et calculer leur moyenne, pour un résultat indépendant de la zone choisie.

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