Microscope confocal à balayage laser 3D

Série VK-X

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Contrôleur VK-X250K

VK-X250K - Contrôleur

*Veuillez noter que les accessoires représentés dans l'image sont uniquement à des fins d'illustration et peuvent ne pas être inclus avec le produit.

Fiche technique (PDF)

Spécifications

Modèle		VK-X250K
Grossissement total		Jusqu'à 28000×^*1
Champ d’observation (plage minimale)		De 11 µm à 5400 µm
Cadence	vitesse de mesure du laser	De 4 à 120 Hz, 7,900 Hz^*2
Principe de mesure	Système optique	Système optique à diaphragme confocal
	Élément récepteur de lumière	Photomultiplicateur, numérisation 16 bits
	Méthode de balayage (pour les mesures standard et l’assemblage d’images)	Réglage automatique de la limite inférieure/supérieure, optimisation rapide de l'intensité lumineuse (AAGII), fonction complémentaire pour intensité lumineuse insuffisamment réfléchie (double scan)
Mesure de hauteur	Résolution Z	0,5 nm
	Échelle linéaire
	Plage dynamique (largeur prise en charge pour une lumière réfléchie de la pièce à usiner)	16 bits
	Précision de répétition σ	20× : 40 nm, 50× : 12 nm, 150× : 12 nm^*3
	Mémoire pour mesure d’axe Z	14 millions de niveaux
	Précision	0,2 + L/100 µm ou plus^4^5
Configuration de platine Z	Structure	Structure avec tête de mesure détachable
	Hauteur maximale de la cible	28 mm, 128 mm (en option)
Mesure de largeur	Résolution de l’écran	1 nm
	Précision de répétition 3σ	20× : 100 nm, 50× : 40 nm, 150× : 20 nm^*3
	Précision	± 2 %^*3
Configuration de platine XY	Manuelle : Plage d’exploitation	70 mm×70 mm
	Motorisée : Plage d’exploitation	50 mm × 50 mm, 100 mm × 100 mm^*6
Observation	Image observée	Image couleur CCD haute résolution Image couleur laser 16 bits confocale Système optique confocal avec filtre ND IMAGE CID C-laser
	Résolution maximale de l’enregistrement	3072×2304
Source de lumière laser pour mesures	Longueur d’onde	Laser violet, 408 nm
	Puissance de sortie maximale	0,95 mW
	Classe laser	Appareil à Laser de Classe 2 (DIN EN60825-1)
Poids	Microscope	Environ 26 kg (sans tête de mesure, environ 10 kg)
	Commande	Environ 11 kg
^1 Avec moniteur 23 pouces. ^2 Avec vitesse ma x imale et utilisation d'une combinaison mode mesure/qualité de la mesure/grossissement de l'objectif. Pour un balayage de lignes de l'ordre avec une variation de mesure de 0,1 µm. ^3 Pour mesure de l'échelle de référence avec objectif 20× (ou supérieur) avec une température ambiante de 20 ± 2 °C. À l'exception du VK-X120/X130 avec objectif 100×. ^4 Pour mesure de l'échelle de référence avec objectif 20x (ou supérieur) avec une température ambiante de 20 ±2 °C. À l'e x ception du VK-X120/X130 avec objectif 100x. ^5 L = longuer de mesure verticale en µm ^6 Avec platine motorisée.

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