Microscope haute vitesseSérie VW-9000

VH-M100E

Système de mesure XY

VH-M100E - Système de mesure XY

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SPÉCIFICATIONS

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Modèle

VH-M100E

Amplitude de déplacement de la platine

100 mm suivant X et Y, respectivement

Résolution de l’affi chage

0,1 µm

Précision du déplacement

4 + 0,02L (µm)*1

Poids maximal supporté

3 kg

Valeursnominales

Tension d’alimentation

100 à 240 VAC 50/60 Hz

Consommationélectrique

50 VA

Résistance à
l'environnement

Température ambiante de fonctionnement

5 à 40°C

Humidité ambiante de fonctionnement

De 35 à 80 % HR (sans condensation)

Poids

18 kg

*1 “L” représente la distance de déplacement, en mm.

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