Magyarország
Lézeres elmozdulásérzékelők (1D)
  • LK-G5000 sorozat
  • LK-G5000 sorozat
    Ultra-nagy sebesség/Nagy pontosság
    Ár lekérdezése
    Katalógus
    Kézikönyv

  • • A lézeres elmozdulásmérőknek gyorsnak, pontosnak és nagy kapacitásúnak kell lenniük, hogy minden alkalmazásban kiváló teljesítményt nyújtsanak. Az LK-G5000-t a legújabb, élvonalbeli technológiákkal készítették azért, hogy minden tekintetben a legjobb legyen a világon.
  • Ultra-nagy sebességű/Nagy pontosságú CMOS lézeres elmozdulásmérő
    • A világon a leggyorsabb: 392 kHz
    • Osztályában a legpontosabb: ±0.02%
    • Osztályában a legmagasabb ismételhetőség: 0.005 μm
    • ÚJ FEJLESZTÉSŰ "ABLE II" VEZÉRLÉS
LAP TETEJÉRE
Optikai mikrométerek / Lézeres pásztázó mikrométerek
  • LS-9000 sorozat
    Nagy sebességű optikai mikrométer
    Ár lekérdezése
    Katalog
    Kézikönyv
  • Egy új, rendkívül precíz mikrométer rendszer, ami automatikusan kompenzálja a céltárgyak nem megfelelő behelyezését és remegését.
  • 3-CMOS×zöld- LED rendszer
    • 16 000 Hz-es mintavételezés
    • Aktív elfordulás és vibráció kompenzáció
    • Nincs mozgó alkatrész
  • TM-3000 sorozat
  • TM-3000 sorozat
    2 Dimenziós mérések mikrométeres pontossággal
    Ár lekérdezése
    Katalógus
    Kézikönyv
  • A gyártósori kétdimenziós mérések gyorsan, nagy pontossággal végezhetők el
  • Gyártósori mérésekhez fejlesztve
    • A TM-3000 kétdimenziós mérőeszköz
    • Nagy sebességű gyártástámogatás
    • Nagy pontosságú ellenőrzés
LAP TETEJÉRE
Profilmérő érzékelők (2D)
  • LJ-V7000 sorozat
    Nagy sebességű 2D/3D lézeres profilmérő
    Ár lekérdezése
    Katalog
    Kézikönyv
  • A VILÁG LEGGYORSABBJA 64 000 PROFIL/MP SEBESSÉGGEL. A sebesség, amivel bármilyen alakú termék mérése villámgyorsan elvégezhető!
  • Rendkívül nagy sebesség/rendkívüli stabilitás
    • Kék lézeres optikai rendszer
    • 64 000 profil/mp, 12 800 000 pont/mp-es mintavételezés.
    • 74 féle mérési módszer
    • Profiladatok folyamatos kommunikálása 64 kHz-es csúcssebességgel
    • Egyszerű 3D megjelenítési funkció
LAP TETEJÉRE
3D mérőrendszerek
  • VK-X150/X250 sorozat
    3D lézeres pásztázó mikroszkóp
    Ár lekérdezése
    Katalog
    Kézikönyv
  • Érintkezés nélküli profil- és érdességmérés szinte bármilyen anyagon
  • Mikroszkóp, pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) és érdességmérő egyetlen készülékben
    • Ez a szoftvermodul megfelel az ISO 25178 szabvány előírásainak, és lehetővé teszi, hogy a felhasználók számos felületi paraméter mérését elvégezzék.
    • Digitális mikroszkópos megfigyelés
    • 16 bites lézeres színes kép
    • [Széles látómező] SZÉLES beolvasás
    • [Mérés] AI-szkennelés
    • Nagy felbontású, nagy mélységélességű megfigyelés
    • Villámgyors 3D-s színes képalkotás
    • Roncsolás nélküli profil- és érdességmérés
  • VR-3200 sorozat
    Egylépéses 3D mérőmakroszkóp
    Ár lekérdezése
    Katalog
    Kézikönyv
  • A KEYENCE kombinálta a digitális mikroszkópok fejlett optikai kialakítását az elmozdulás-érzékelők nagy sebességű, nagy pontosságú mérési és 3D-s technológiájával, hogy egy olyan makroszkópot hozzon létre, amely azonnali 3D mérés elvégzésére képes.
  • Egylépéses 3D mérés
    • Széles látómező precíz 3D-s mérése egyetlen kattintással
    • Felhasználótól független 3D-s mérések
    • Egyszerű 3D-es elemzési és jelentési eszközök széles választéka
LAP TETEJÉRE
Képalkotásos mérőrendszerek
  • IM-sorozat
  • IM-sorozat
    Képalkotásos profilmérő rendszer
    Ár lekérdezése
    Katalog
    Kézikönyv
  • Ez a modell egy állítható világítóegységgel van felszerelve, ami egyetlen egységben integrálja a többszörös gyűrűs világítófunkciókat. Az ideális világítási körülmények reprodukálhatók, ami még stabilabb megvilágított mérést tesz lehetővé.
  • Mérési eredmények egy gombnyomásra
    • Rendkívül rövid mérésidő
    • Egyedi különbségek kiküszöbölése
    • Egyszerű telepítés a szélesebb alkalmazásokhoz
    • Egyszerű adatkezelés
LAP TETEJÉRE
LAP TETEJÉRE