• VK-X

  • Laserový mikroskop vs. interferometr s bílým světlem

    • Měření ploch s hranou více než 50 mm s nanometrovým rozlišením
    • Bez ztráty dat u komplexních povrchů
    • Skenování nezávislé na materiálu či povrchové úpravě
    • Plně automatické měření a analýza
  • Žádná chybějící data

    Interferometry s bílým světlem trpí na ztrátu dat především u nakloněných rovin a zaoblených povrchů. To nutí užívatele vytvářet předpoklady o jejich vzorku. VK-X je schopno získat data i z téměř svislých povrchů, což uživateli přináší o vzorku přesné informace.

  • Snímání barev

    VK-X zaznamenává plně zaostřené barevné snímky ve vysokém rozlišení, které nemohou být dosaženy interferometry s bílím světlem. Zvětšení je možné až 28 000x, což umožnuje vytvářet snímky s podobném rozlišení jako SEM. Navíc i s barvami.

  • Nezávislost na materiálu vzorku

    Interferometry s bílým světlem mají potíže zaznamenat průhledné povrchy a povrchy s nízkou odrazivostí světla. Laserové mikroskopy jsou však nezávislé na skenovaném materiálu, což umožňuje zaznamenání dat z odrazivých, matných i průhledných povrchů.

  • Jednoduchost ovládání

    Umístěte vzorek na pracovní plochu, klikněte na Měřit a VK-X1000 automaticky naskenuje váš vzorek bez jakékoli přípravy či nivelace.

  • Ztráta dat u interferometrů s bílým světlem

  • VK-X Kompletní data o povrchu

  • Interferometr - Inkoust na papíře

  • VK-X - Inkoust na papíře

Zjistěte více o výhodách VK-X!

DOPORUČENÉ POLOŽKY

Řada VK-X Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním Katalog

Řada VK-X Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním Katalog

  • [Typ souboru]PDF:5.77MB

Přihlásit se

Registrace uživatele

* je povinný údaj.

nejméně 7 znaků, bez mezer