Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním

Řada VK-X

Výroba tohoto modelu byla ukončena.
Naše společnost během přepravy zboží zajištuje certifikační standard.

Kontaktujte nás: +420 220 184 700 +421 (0) 2 3570 0100 Poptávkový formulář

Měřicí jednotka VK-X160K

VK-X160K - Měřicí jednotka

*Vezměte prosím na vědomí, že příslušenství zobrazené na obrázku je pouze ilustrativní a nemusí být součástí produktu.

Specifikace

Model		VK-X160K
Celkové zvětšení		Až 19 200x^*1
Zorné pole (minimální rozsah)		16 až 5400 µm
Počet snímků za sekundu	Rychlost laserového měření	4 až 120 Hz, 7 900 Hz^*2
Principy měření	Optický systém	Štěrbinový konfokální optický systém
Měření výšky	Lineární stupnice	5 nm
	Opakovatelnost σ	20x: 40 nm, 50x: 20 nm, 100x: 20 nm ^*3
	Paměť měření osy Z	1,4 milionu kroků
	Přesnost	0,2 + L / 100 µm nebo lepší^4^5
Měření šířky	Rozlišení displeje	10 nm
	Opakovatelnost 3σ	20x: 100 nm, 50x: 50 nm, 100x: 30 nm ^*3
	Přesnost	±2 %^*6
Konfigurace stojanu XY	Ruční: Provozní rozsah	70 mm x 70 mm
	Automatická: Provozní rozsah	50 x 50 mm, 100 x 100 mm^*7
Pozorování	Maximální rozlišení snímání	3072×2304
Hmotnost	Mikroskop	Cca 25 kg (bez hlavy senzoru, cca 8,5 kg)
	Řídicí jednotka	Cca 11 kg
^1 S 23palcovým monitorem. ^2 Při maximální rychlosti a při použití kombinace režimu měření / kvality měření / zvětšení objektivu. Je-li skenování výrobních linek v rozsahu rozteče měření 0,1 µm. ^3 Při měření referenční stupnice pomocí čočky objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším) při okolní teplotě 20 ± 2 °C. S výjimkou VK-X120/X130 s čočkou objektivu se zvětšením 100x. ^4 Při měření referenční stupnice pomocí čočky objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším) při okolní teplotě 20 ± 2 °C. S výjimkou modelu VK-X120/X130 s čočkou objektivu se zvětšením 100x. ^5 L = svislá naměřená délka v µm ^6 Při měření referenční stupnice s čočkou objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším) při okolní teplotě 20 ± 2 °C. S výjimkou VK-X120/X130 s čočkou objektivu se zvětšením 100x. ^*7 S motorizovanou podložkou.

Datový list (PDF) Další modely