Mikroskop für Rauheitsmessungen mit präziser Oberflächenanalyse

Laser Mikroskope können kontaktlose Profil-, Rauheits- und Schichtdickenmessungen über eine Fläche mit Nanometer Auflösung auf jeglichem Material oder Form erzeugen.

Die VK-X1000 Serie ermöglicht nicht nur das Messen von Linienrauheiten (Iso 4287) sondern auch das Messen von Oberflächenrauheiten (ISO 25178). Neben 42 Rauheitsparametern nutzt die VK-X1000 Serie eine einzigartige Funktion um verschiedene Proben zu vergleichen. Rauheitsmessungen sind möglich im Mikrometer bis unteren Nanometer Bereich.

Durch die Kombination von Weißlicht und Laser sind konfokale Laserscanning Mikroskope in der Lage die Oberfläche einer Probe in höchster Auflösung zu erfassen und Farbinformationen zu sammeln. Unterschiede im Nanometer Bereich können durch Analyse der Intensität des reflektierten Laserlichts relativ zur Z-Position des Lasers gemessen werden.

Legen Sie ihre Probe einfach auf den Objekttisch, klicken Sie auf Messen und das VK-X1000 scannt und misst automatisch ihre Probe. Unsere hochentwickelte Software analysiert automatisch die Daten und empfiehlt den richtigen Rauheitsparameter zur Evaluierung.