3D-Laser-Scanning-Mikroskop für die Oberflächenmessung


  • Nanometer-, Mikrometer- und Millimetermessungen in einem Gerät
  • Messen Sie sowohl ebene als auch unebene Oberflächen
  • Reduzieren Sie Ressourcen und Messzeit
  • Einfache und schnelle Messungen auch für Erstanwender


Beobachtung

  • Materialbeschaffenheit, Form und andere Oberflächenbedingungen werden deutlich dargestellt
  • Vergrößerung bis zu 28.800x
  • Keine Vorverarbeitung der Probe erforderlich

Berührungslose Messung der Oberflächenrauhigkeit

  • Funktioniert bei jeder Art von Material
  • Keine Beschädigung des Messobjekts
  • Präzise Messung auf Nanoebene

Analyse

  • Analyse der Rauhigkeit
  • Einfache Unterscheidung von Oberflächen
  • Quantifizierung selbst der detailliertesten Formen
Ein System ermöglicht vielfältige Analysen von der Profilmessung bis zur Rauheitscharakterisierung

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