- Nanometer-, Mikrometer- und Millimetermessungen in einem Gerät
- Messen Sie sowohl ebene als auch unebene Oberflächen
- Reduzieren Sie Ressourcen und Messzeit
- Einfache und schnelle Messungen auch für Erstanwender
- ISO 4287 und ISO 4288 Konformität
Konfokale Mikroskopie VK-X3000 | 3D Laserscanning-Mikroskop