• VK-X3000

  • Laser Mikroskope vs. Weißlicht Interferometer

    • Messen Sie über eine Fläche von 50 mm mit einer Auflösung in Nanometern
    • Kein Datenverlust auch bei komplexen Oberflächen
    • Material und Form unabhängig
    • Vollautomatische Messungen und Analyse

  • Keine fehlenden Daten

    Weißlicht Interferometer leiden unter Datenausfällen bei Proben mit steilen Kanten oder gekrümmten Oberflächen. Das VK-X ist in der Lage Daten auf nahezu vertikalen Oberflächen zu erfassen und gibt dem Nutzer die Möglichkeit fundierte Aussagen über die Proben zu treffen

  • Farbinformationen

    Das VK-X erzeugt tiefenscharfe, hochauflösende Farbbilder welche mit einem Weißlichtinterferometer nicht erreicht werden können. Es können Vergrößerungen bis zu 28.800x erzielt werden, wodurch SEM-ähnliche Auflösungen mit Farbinformationen entstehen.

  • Materialunabhängig

    Weißlichtinterferometer haben Probleme bei der Datenerfassung von transparenten oder nicht stark reflektierenden Oberflächen. Laser Mikroskope sind materialunabhängig, ermöglichen die Datenerfassung auch bei spiegelnden, matten oder transparenten Materialien.

  • Benutzerfreundlichkeit

    Legen Sie ihre Probe einfach auf den Objekttisch, klicken Sie auf Messen und das VK-X3000 scannt und misst ihre Probe, ohne vorherige Probenvorbereitung oder -nivellierung.

  • Weißlichtinterferometer Datenverlust

  • VK-X vollständige Oberflächendaten

  • Interferometer - Tinte auf Papier

  • VK-X - Tinte auf Papier

Lernen Sie mehr über die Vorteile des VK-X!

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