Newsletter 2018

19. März 2018

Betreff :

Konfokales 3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X - Benutzerfreundliche, schnelle und automatisierte Oberflächenanalyse

e-News@KEYENCE
[NEU] Konfokales 3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X - Benutzerfreundliche, schnelle und automatisierte Oberflächenanalyse
Optimieren Sie Ihre optische Betrachtung, Ihre Messungen wie auch Ihre Analysen. Die neue Modellreihe VK-X bietet Ihnen unter anderem folgenden Vorteile:
·Konfokale Laser-Lochblendenoptik und Fokusvariation nach ISO 25178-6
·3D-Messungen innerhalb von 5 Sekunden mit großem Messbereich
·Automatisierte und benutzerunabhängige Analysen von Routinekontrollen

Laden Sie sich den Katalog herunter und erfahren Sie mehr.
Ein Vision-Sensor, mit dem zuvor instabile Erkennungen stabilisiert werden
Genügt es, bisherige Sichtprüfungen, Inspektionen mit mehreren Sensoren und dann Bildverarbeitung durchzuführen? Mit der Modellreihe IV können jegliche instabilen Elemente beseitigt werden.
Wir präsentieren ein Modell mit großem und breitem Objekttisch!
Dank eines Objekttisches, der ca. sechsmal so groß ist als jener der Vorgängermodelle, ist nun auch die Messung von großen Produkten möglich, die zuvor nicht gemessen werden konnten. Zudem sind jetzt auch Mehrfachmessungen möglich, indem mehrere gleich geformte Messobjekte auf dem großen Objekttisch platziert werden.
[Neues Produkt] Auflösung in einer neuen Dimension
Wie leistungsfähig ist ein multispektrales Bildverarbeitungssystem?
Dieses System kombiniert eine LED-Beleuchtung mit 8 unabhängigen Frequenzbereichen mit einem völlig neuen Prüfalgorithmus.
Dadurch können selbst sehr kleine Abweichungen an Messobjekten erkannt werden, ungeachtet von Typ, Farbe, Form und Glanz des Objekts.
Erfüllen Sie die stetig steigenden Qualitätsanforderungen
Erfahren Sie, am Beispiel verschiedener Industrie- und Anwendungsbereiche, wie Sie u.a.

·die Geschwindigkeit und Produktqualität (Fertigungsstabilität) verbessern
·die Analyse- und Entwicklungszeiten erheblich verringern
·dank gesteigerter Fertigungsausbeute die Stückkosten senken und die Liefertreue erhöhen
[NEU] Wie Sie Kommunikationsschnittstellen optimal nutzen
Wir haben unsere Kommunikationsschnittstellen verbessert! Wenn Sie Zeit sparen und Ihre Effizienz steigern möchten, dann ist dieser Leitfaden genau das Richtige für Sie. Erfahren Sie zum Beispiel, wie Sie mit lediglich einem Klick, Zeichenfolgen in mehrere Markierungsblöcke eingeben oder ganz einfach Fehlerbilder mit der integrierten Kamera abspeichern können.
JEDE Änderung im Erscheinungsbild erkennen!
Die NEUE Vollspektrum-Modellreihe LR-W ist die Lösung für eine nie gekannte Anzahl von Anwendungen. Sie können auf Vorhandensein/Fehlen prüfen, Produkte mit geringfügigen Abweichungen unterscheiden, Registriermarken erkennen und die Farbe detektieren.
Wir können LESEN und SCHREIBEN!!!
Egal ob Sie Ihre Produkte markieren oder Codes auf den Produkten auslesen möchten. KEYENCE bietet Ihnen für beide Prozesse die richtige Lösung. So können Sie in Rückverfolgbarkeits-Prozessen alle Systeme aus einer Hand beziehen. Im Folgenden finden Sie einen Leitfaden zu aktuellen Rückverfolgbarkeits-Lösungen.
Besser messen: optimieren Sie jetzt Ihre Messprozesse
Profitieren auch Sie von diesen Verbesserungen mit unserem neuen Leitfaden für Ihre Dicken-Messungen:
·Verkürzte Prüftaktzeit
·100%-Prüfung
·Bedienerunabhängige Messgenauigkeit
·Hochpräzise Messung, ohne das Messobjekt zu beschädigen

Technische E-News

Erfahren Sie das Neueste über Sensoren, Bildverarbeitungssysteme, Messgeräte, Lasermarkiersysteme und Mikroskope.