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          Konfokales 3D Laserscanning-Mikroskop

          Modellreihe VK-X

          Messung vielfältiger Oberflächenformen

          Vielseitige und flexible Analysen der aufgenommenen Oberflächendaten

          Profile, Höhenunterschiede, Flächen und Volumen messen und dokumentieren

          [Profil- und 3D-Messung]
          Messung von Höhe, Breite, Winkel und Querschnitt

          Die Software VK-Analyzer kann Höhe, Breite, Querschnitt, Winkel oder Radius des geraden oder gekrümmten Abschnitts eines Querschnittprofils messen.

          Messung von Höhe, Breite, Winkel und Querschnitt auf Leiterplatte (1000x)

          Messung von Höhe, Breite, Winkel und Querschnitt auf Leiterplatte (1000x)

          Radiusmessung an einer Mikrolinse (1000x)

          Radiusmessung an einer Mikrolinse (1000x)

          Flächen- und Volumenmessung

          Die Software VK-Analyzer kann Volumen, Oberfläche sowie das Verhältnis zwischen Grundfläche und Oberfläche von Objekten in jedem beliebigen am Bildschirm ausgewählten Bereich vermessen.

          Optischer Film (1000x)

          Optischer Film (1000x)

          Oberflächenmessungen bei einer Solarzelle (1000x)

          Oberflächenmessungen bei einer Solarzelle (1000x)

          Topografie und Oberflächenbeschaffenheit unterscheiden und dokumentieren

          [Vermessung von Linien- und Oberflächenrauheiten]
          Rauheitsmessung von Linien

          Die Linienrauheit kann anhand einer Vielzahl von Rauheitsparametern gemessen werden. Die Messlinie wird in der 2D- und 3D-Anzeige dargestellt, so dass klar ersichtlich ist an welcher Stelle gemessen wurde.

          Digitalisieren von Unterschieden bei der Oberflächenbeschaffenheit

          Rauheitsmessung von Oberflächen

          Aufgrund der Oberflächendaten können die Rauheitsparameter auch auf die gesamte Oberfläche oder auf Teilbereiche der Oberfläche angewendet werden. Unterschiede werden hiermit quantifizierbar. Diese Parameter sind stabiler im Vergleich zu einer einzelnen Linienrauheit.

          (Beispiel) Veränderungen an einer Funktionsfolie (3000x)

          Messobjekt A: Ra 1,5 μm

          Messobjekt A: Ra 1,5 μm

          Messobjekt B: Ra 3,2 μm

          Messobjekt B: Ra 3,2 μm

          Zerstörungsfreie Messungen von transparenten Proben, z.B. Folien

          Auswertung der Schichtdicken

          Einsetzbar bei der Analyse mehrerer transparenter Schichten an allen Punkten des Betrachtungsbereichs. Diese Funktion kann 3D-Bilder mehrlagiger transparenter Oberflächen erzeugen. Querschnittsprofile können an einer einzelnen oder an mehreren Schichten dargestellt werden. Die Schichtdicken werden gemessen.

          Foliendickenmessungen über eine Fläche

          Automatische Messfunktion

          [Automatische Messung regelmäßiger Oberflächenstrukturen (2D und 3D)]
          Automatische Messung von Breite und Höhe

          Diese Funktion ermöglicht die automatische Vermessung regelmäßiger 2D- oder 3D Strukturen in der Oberfläche. Höhen oder Breiten lassen sich wiederholt messen, ohne das Benutzerfehler auftreten.

          Resist-Muster (6000x)

          Resist-Muster (6000x)

          Optischer Film (1000x)

          Optischer Film (1000x)

          Bibliothek für Messprojektoren

          Weitere Modellreihen unter 3D Messsysteme

          Typen unter Digitale Koordinatenmesssysteme

          Digitale Koordinatenmesssysteme