Hochpräzise Oberflächenanalyse NEU 3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X4000

  • Konfokaler Laser
  • Weißlicht-interferometrie
  • Fokusvariation
  • Multi-Punkt-Messung
  • 300 mm-Objekttisch

Triple Principle Integrated für Messungen im Nano-, Mikro- und Millimeterbereich

Konfokaler Laser

Weißlichtinterferometrie

Fokusvariation

Multi-Punkt-Messungen für hochauflösende, großflächige Analyse von Messobjekten

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+43 (0) 2236 378266 0/+41 (0) 434 5577 30