A VK-X 1000 lézeres, konfokális pásztázó mikroszkóp anyagtól és formától függetlenül képes mérések végzésre, ellentétben a hagyományos 3D mérőrendszerekkel, mint például az érintéses profilok és az interferométerek, amelyek károsíthatják a mérendő anyagot, vagy nem tudnak adatokat szolgáltatni bizonyos anyagokon és felületeken. A pásztázó elektronmikroszkóphoz képest nem kell előkészíteni a mintákat. Ezek az eszközök költségesek is lehetnek, időigényes a működtetésük és nehezen használhatóak.