Confocale 3D-laserscanmicroscoop

VK-X Reeks

Problemen opgelost

Vaak voorkomende problemen met conventionele apparatuur

Al deze beperkingen worden overwonnen met een laser scanning microscoop

Optische microscoop

Optische microscoop

Het is onmogelijk een doel met een oneffen oppervlak scherp te stellen bij sterke vergroting.

SEM

SEM

Observatie kan alleen worden uitgevoerd in zwartwit, de grootte van de samples is beperkt, en de pre-processing vraagt veel tijd.

Ruwheids meting

Ruwheids meting

Projecties en samendrukkingen kunnen niet worden gemeten zonder het doelgebied te beschadigen.

Al deze beperkingen worden overwonnen met een laser scanning microscoop

Optische microscoop

Slechte resolutie, laag contrast

Slechte resolutie, laag contrast

Disk pits (6000x)

Ondiepe veld-diepte

Ondiepe veld-diepte

Rand van een lemmet (1000x)

Geen steun voor traceerbaarheid

Geen steun voor traceerbaarheid

Hoge resolutie, grote diepte-van-veld observatie

Hoge resolutie, 24000x vergroting

Hoge resolutie, 24000x vergroting

Disk pits (6000x)

Volledig scherp beeld

Volledig scherp beeld

Rand van een lemmet (1000x)

Compatibel met traceerbaarheid

Compatibel met traceerbaarheid

De meetresultaten die worden verkregen via de VK reeks zijn erg nauwkeurige gegevens die voldoen aan de nationale standaard traceerbaarheid.

SEM

Alleen monochroom beeld

Alleen monochroom beeld

Inkt toner (1000x)

Tijdverslindende voorbereiding en observatie

Tijdverslindende voorbereiding en observatie

Beperkte sample-grootte

Beperkte sample-grootte

Observatie kan onmogelijk zijn omwille van de grootte van het sample omdat het niet in de sample-kamer past.

Snelle 3D kleuren beeldvorming

Hoge definitie kleurenbeeld

Hoge definitie kleurenbeeld

Inkt toner (1000x)

Geen sample voorbereiding

Geen sample voorbereiding

Meet samples van om het even welke grootte en materiaal

Meet samples van om het even welke grootte en materiaal

Afneembare kop-eenheid laat een grote variëteit aan sample-groottes toe om te meten, kan worden geïntegreerd met andere apparaten, en ondersteunt bediening op afstand.

Ruwheids meting

Sample verkrast na contact met de probe

Sample verkrast na contact met de probe

Aluminium oppervlak (200x) Horizontale uithollingen op het scherm.

Moeilijk te meten doelgebieden

Moeilijk te meten doelgebieden

Het raken van het gewenst gebied van een doel kan een probleem zijn voor doelen zoals de toppen van schroefdraad.

De resolutie is beperkt door de diameter van de stylus-punt

De resolutie is beperkt door de diameter van de stylus-punt

Het is niet mogelijk om oppervlakken te meten die kleiner zijn dan de punt van de stylus van de ruwheidsopnemer.

Non-destructieve profiel- en ruwheidsmetingen

Meer reeksen in 3D meetsysteem

Types in Afmetingensysteem

Afmetingensysteem