Zoekgeschiedenis
    Reeks ( resultaten)
      Modellen ( resultaten)
        Zoekterm

          Confocale 3D-laserscanmicroscoop

          VK-X Reeks

          Problemen opgelost

          Vaak voorkomende problemen met conventionele apparatuur

          Al deze beperkingen worden overwonnen met een laser scanning microscoop

          Optische microscoop

          Optische microscoop

          Het is onmogelijk een doel met een oneffen oppervlak scherp te stellen bij sterke vergroting.

          SEM

          SEM

          Observatie kan alleen worden uitgevoerd in zwartwit, de grootte van de samples is beperkt, en de pre-processing vraagt veel tijd.

          Ruwheids meting

          Ruwheids meting

          Projecties en samendrukkingen kunnen niet worden gemeten zonder het doelgebied te beschadigen.

          Al deze beperkingen worden overwonnen met een laser scanning microscoop

          Optische microscoop

          Slechte resolutie, laag contrast

          Slechte resolutie, laag contrast

          Disk pits (6000x)

          Ondiepe veld-diepte

          Ondiepe veld-diepte

          Rand van een lemmet (1000x)

          Geen steun voor traceerbaarheid

          Geen steun voor traceerbaarheid

          Hoge resolutie, grote diepte-van-veld observatie

          Hoge resolutie, 24000x vergroting

          Hoge resolutie, 24000x vergroting

          Disk pits (6000x)

          Volledig scherp beeld

          Volledig scherp beeld

          Rand van een lemmet (1000x)

          Compatibel met traceerbaarheid

          Compatibel met traceerbaarheid

          De meetresultaten die worden verkregen via de VK reeks zijn erg nauwkeurige gegevens die voldoen aan de nationale standaard traceerbaarheid.

          SEM

          Alleen monochroom beeld

          Alleen monochroom beeld

          Inkt toner (1000x)

          Tijdverslindende voorbereiding en observatie

          Tijdverslindende voorbereiding en observatie

          Beperkte sample-grootte

          Beperkte sample-grootte

          Observatie kan onmogelijk zijn omwille van de grootte van het sample omdat het niet in de sample-kamer past.

          Snelle 3D kleuren beeldvorming

          Hoge definitie kleurenbeeld

          Hoge definitie kleurenbeeld

          Inkt toner (1000x)

          Geen sample voorbereiding

          Geen sample voorbereiding

          Meet samples van om het even welke grootte en materiaal

          Meet samples van om het even welke grootte en materiaal

          Afneembare kop-eenheid laat een grote variëteit aan sample-groottes toe om te meten, kan worden geïntegreerd met andere apparaten, en ondersteunt bediening op afstand.

          Ruwheids meting

          Sample verkrast na contact met de probe

          Sample verkrast na contact met de probe

          Aluminium oppervlak (200x) Horizontale uithollingen op het scherm.

          Moeilijk te meten doelgebieden

          Moeilijk te meten doelgebieden

          Het raken van het gewenst gebied van een doel kan een probleem zijn voor doelen zoals de toppen van schroefdraad.

          De resolutie is beperkt door de diameter van de stylus-punt

          De resolutie is beperkt door de diameter van de stylus-punt

          Het is niet mogelijk om oppervlakken te meten die kleiner zijn dan de punt van de stylus van de ruwheidsopnemer.

          Non-destructieve profiel- en ruwheidsmetingen

          Meer reeksen in 3D meetsysteem

          Types in Afmetingensysteem

          Afmetingensysteem