Zoekgeschiedenis
    Reeks ( resultaten)
      Modellen ( resultaten)
        Zoekterm

          Confocale 3D-laserscanmicroscoop

          VK-X Reeks

          Systeemconfiguratie

          VK laser scanning microscoop-opties

          VK laser scanning microscoop-opties

          In de hoogte regelbare stand voor de VK-reeks

          Een erg stevige, in de hoogte regelbare stand is bevestigd aan de achterzijde van de VK microscoop, wat toelaat de meetkop op elke willekeurige hoogte in te stellen. Het invoegen van een spacer tussen de meetkop en de basis verbetert de stabiliteit en laat een erg nauwkeurige meting toe.

          Objectief lenzen

          Objectief lenzen

          Er is een grote selectie lenzen beschikbaar, waaronder hoge N.A., APO, grote brandpuntsafstand, en lenzen met een kleine vergroting.

          300 mm wafer-houder

          300 mm wafer-houder

          Een volledige wafer kan worden onderzocht en geanalyseerd. Eenvoudig te bevestigen ontwerp.

          Gemotoriseerde houder

          Gemotoriseerde houder

          De gemotoriseerde houder is essentieel voor de automatische beeldsamenstelling en de geprogrammeerde werking. Eenvoudig te bevestigen ontwerp.

          Afzonderlijke meetkop

          Afzonderlijke meetkop

          Non-destructief onderzoek en analyse van eender welk punt op grote doelen door de kop op een houder van een derde partij te monteren.

          ISO 25178
          Oppervlaktetextuur meetmodule VK-H1 XR

          Oppervlaktetextuur meetmodule VK-H1 XR

          Deze software module voldoet aan ISO 25178 en laat de gebruiker toe metingen uit te voeren op verschillende oppervlakteparameters. De te meten parameters omvatten hoogte-, ruimte-, hybride, en functionele metingen.

          2D & 3D meet-tools analyse uitbreidingsmodule VK-H1XP [optie]

          Inkepingen/projectie metingen

          Deel gebieden boven (projecties) of onder (inkepingen) een gespecificeerde hoogtedrempel op in afzonderlijke zones, en voer voor elk gebied metingen uit.

          Meting inkepingen

          Meting inkepingen

          Oppervlak van de metalen component na verwerking (3000x)

          Meting projectie

          Meting projectie

          Deuk (2000x)

          Functie voor compensatie van de positie [Industry’s First]

          Indien een standaard sample geregistreerd werd en er een ander beeld in een sjabloon geopend is, regelt de VK-analyser automatisch de positie van het beeld zodat het beeld op dezelfde positie opent als het geregistreerde sample. Deze functie is efficiënt bij het meten van grote sample-populaties.

          Automatische positiecompensatie

          Automatische positiecompensatie

          Draad bonding (1000x)

          Hoogteverschil analyse-functie

          Hoogteverschil analyse-functie

          Analyseert het verschil tussen twee beelden als een solide 3D beeld. Laat op de oppervlakte steunende beeldanalyse toe, die kleine veranderingen kan vastleggen.

          Boloppervlak hoekmeting

          Automatische extractie van de straal van ronde voorwerpen binnen een gegeven gebied. Omdat de metingen automatisch berekend worden, vermindert deze functie variaties in de metingen tussen de gebruikers.

          Bolmetingen

          Bolmetingen

          Microlens (1000x)

          Deeltjes analyse-module VK-H1XG [Optie]

          Deeltjes analyse-module VK-H1XG [Optie]

          Automatisch tellen en meten van ronde objecten binnen het veld van de microscoop. Preprocessing zoals het automatisch afscheiden van aanpalende deeltjes, tellen, diameter, enz. kunnen worden uitgevoerd.

          Meer reeksen in 3D meetsysteem

          Types in Afmetingensysteem

          Afmetingensysteem