Zoekgeschiedenis
    Reeks ( resultaten)
      Modellen ( resultaten)
        Zoekterm

          Optisch meetsysteemIM-7000 Reeks

          IM-7030T

          Meetunit

          SPECIFICATIES

          Selecteer taal

          Model

          IM-7030T

          Type

          Kop
          Eenheid voor hoogtemetingen

          Beeldsensor

          1" 6,6 megapixel monochroom CMOS

          Beeldscherm

          10. 4" LCD-monitor (XGA: 1024 × 768)

          Lichtopvangende lens

          Dubbele telecentrische lens

          Beeldmeting

          Zichtveld

          Meetmodus met breed veld: 300 mm × 200 mm (4× R50)
          Meetmodus met hoge precisie: 225 × 125 mm

          Minimum weergave-eenheid

          0,1 µm

          Herhaalbaarheid

          Zonder verplaatsing van objecttafel

          Meetmodus met breed veld: ±1 µm
          Meetmodus met hoge precisie: ±0,5 µm

          Met verplaatsing van objecttafel

          Meetmodus met breed veld: ±2 µm
          Meetmodus met hoge precisie: ±1,5 µm

          Meetnauwkeurigheid (±2σ)

          Zonder binding

          Meetmodus met breed veld: ±5 µm*1
          Meetmodus met hoge precisie: ±2 µm*2

          Met binding

          Meetmodus met breed veld: ±(7 + 0,02 L) µm*3
          Meetmodus met hoge precisie: ± (4 + 0,02 L) µm*4

          Meting met lichtsonde

          Meetbare gebied (XY)

          190 × 90 mm

          Maximale meetdiepte

          30 mm

          Diameter lichtsonde

          ø3 mm

          Meetkracht

          0,015 N

          Herhaalbaarheid

          ±2 µm*5

          Meetnauwkeurigheid

          ±(8 + 0,02 L) µm*6

          Hoogtemetingen

          Meetbereik

          0 tot 75 mm

          Meetkracht

          0,3 N

          Meetnauwkeurigheid (XY)

          ±0,2 mm*7

          Minimum weergave-eenheid

          1 µm

          Meetbare gebied (XY)

          Meetmodus met breed veld: 145 × 95 mm
          Meetmodus met hoge precisie: 107,5 × 95 mm

          Herhaalbaarheid

          ±2 µm*8

          Meetnauwkeurigheid

          ±7,5 µm*9

          Externe invoer op afstand

          Geen-spanningsingang (met en zonder contact)

          Externe uitgang

          OK/NG/FAIL/MEAS.

          PhotoMos-uitgang
          Nominale belasting 24 VDC 0,5 A
          AAN-weerstand 50 mΩ of lager

          Interface

          LAN

          RJ-45 (10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-T)

          USB 2.0 serie A

          6 poorten (voor: 2, achter: 4)

          Opslaan

          Harde-schijfstation

          500 GB

          Verlichtingssysteem

          Transparant

          Telecentrische transparante verlichting

          Ring

          Vierdeling, meerhoekige verlichting (elektrisch)
          Spleetringverlichting (richtingsgevoelig) verlichting (elektrisch)

          XY-steun

          Bewegingsbereik

          200 × 100 mm (elektrisch)

          Weerstandscapaciteit

          7,5 kg

          Z-steun

          Bewegingsbereik

          75 mm (elektrisch)

          Voeding

          Spanning

          100-240 VAC, 50/60 Hz

          Verbruik

          430 VA of lager

          Omgevingsbestendigheid

          Omgevingstemperatuur

          +10 tot 35°C

          Omgevingsvochtigheid

          20% tot 80% RH (geen condensatie)

          Gewicht

          Ongeveer 35 kg

          *1 In het bereik van ø80 mm, binnen het bereik van de omgevingstemperatuur voor de werking van +23°C ±1°C op de scherpgestelde puntpositie
          *2 In het bereik van ø20 mm, binnen het bereik van de omgevingstemperatuur voor de werking van +23°C ±1°C op de scherpgestelde puntpositie
          *3 In het bereik van 280 × 180 mm (4× R40) binnen het bereik van de omgevingstemperatuur voor de werking van +23°C ±1°C op de scherpgestelde puntpositie en met een belasting van 3 kg of minder op de steun (L = aantal steunbewegingen in mm-eenheden)
          *4 In het bereik van 220 × 120 mm binnen het bereik van de omgevingstemperatuur voor de werking van +23°C ±1°C op de scherpgestelde puntpositie en met een belasting van 3 kg of minder op de steun (L = aantal steunbewegingen in mm-eenheden)
          *5 Als het detectiesysteem in standaardpositie is. Als het detectiesysteem op een diepe positie is, dan ±3 µm
          *6 Als het detectiesysteem in standaardpositie is en de omgevingstemperatuur +23°C ±1°C is, met een belasting van 3 kg of minder op de steun (objecttafel). Als het detectiesysteem op een diepe positie is, dan ± (10 + 0,02 L) µm met L als meetlengte in mm.
          *7 Omgevingstemperatuur werking: 23°C ±1°C.
          *8 Met een maximale meethoogte van 30 mm of minder. ±3 µm wanneer de maximale meethoogte tussen 30 mm en 75 mm is.
          *9 Met een maximale meethoogte van 30 mm of minder. ±9,5 µm wanneer de maximale meethoogte tussen 30 mm en 75 mm is.

          Afmetingensysteem