Analiza cząstek / zanieczyszczeń

Ze względu na zwiększone wymagania jakościowe coraz ważniejsze staje się zapobieganie zanieczyszczeniom cząstkami obcymi podczas procesów produkcyjnych.

Sposoby oświetlenia

Oprócz obiektywów o odpowiedniej jasności i wysokiej rozdzielczości bardzo ważną rolę odgrywa przede wszystkim dobór odpowiedniego oświetlenia. W celu dokładniejszego zbadania obiektu można zastosować zarówno oświetlenie pierścieniowe, jak i doświetlacz współosiowy. W przypadku użycia mikroskopu cyfrowego do przeprowadzenia analizy cząstek/zanieczyszczeń na obiektach o niskim współczynniku odbicia lub półprzezroczystych dobrym rozwiązaniem jest użycie oświetlenia światłem przechodzącym. Jeśli współczynnik odbicia jest wyższy i prowadzi do powstania połysku, oświetlenie światłem rozproszonym może pomóc w wyraźnym odróżnieniu cząstek/zanieczyszczeń od powierzchni obiektu. Zmiana kierunku oświetlenia jest często pomocna w uwidocznieniu cząstek obcych przy oświetleniu częściowym. Ponadto oświetlenie światłem spolaryzowanym może być pomocne, jeśli cel można obserwować tylko przez przezroczysty obiekt.

Schematyczny diagram głównych sposobów oświetlenia do analizy cząstek/zanieczyszczeń (od góry po lewej do dołu po prawej): oświetlenie pierścieniowe, doświetlacz współosiowy, oświetlenie światłem przechodzącym i oświetlenie światłem rozproszonym.
A
Źródło światła
B
Soczewka
C
Obiekt
D
Półlustro
A
Źródło światła
B
Soczewka
C
Obiekt
D
Filtr ze szkła matowego

Mikroskop cyfrowy KEYENCE jest wyposażony w funkcję multioświetlenia, która zapisuje wszystkie dane dotyczące oświetlenia w przechwyconym obrazie. Pozwala to na zmianę oświetlenia w obrazie w dowolnym momencie, bez konieczności przechwytywania nowego obrazu obiektu.
Analiza cząstek/zanieczyszczeń może być przeprowadzona z większą szczegółowością przy użyciu minimalizacji odbicia oświetlenia pierścieniowego w mikroskopie cyfrowym KEYENCE.

Użycie funkcji multioświetlenia jako części analizy cząstek/zanieczyszczeń

Analiza cząstek / zanieczyszczeń

Stosując system obserwacji pod dowolnym kątem KEYENCE, użytkownicy mogą dokładnie określić, czy obce cząstki znajdują się na powierzchni, czy pod nią. Ułatwia to analizę, co pozwala na szybkie opracowanie potencjalnych rozwiązań.

Obserwacja obcych cząstek w widoku powierzchni (po lewej) i pod kątem

Obrazowanie 3D obcych cząstek to kolejne narzędzie do identyfikacji rozwiązań. Podczas analizy dane 3D pomagają określić, czy problemem jest zarysowanie, czy zanieczyszczenie obcymi cząstkami.

Analiza ilościowa przez pomiar cząstek obcych

Po zaobserwowaniu i przechwyceniu obrazu cząstek obcych mikroskop cyfrowy KEYENCE oferuje szeroki zakres funkcji pomiarowych 2D i 3D, które można wykonywać w czasie rzeczywistym i eksportować do raportu za pomocą oprogramowania do przetwarzania tekstu lub arkuszy kalkulacyjnych.

Pomiar jako część analizy zanieczyszczeń bezpośrednio na obrazie w czasie rzeczywistym (po lewej) i z wykorzystaniem raportów

Mikroskop cyfrowy KEYENCE przeprowadza analizę cząstek/zanieczyszczeń zgodnie z normą ISO 16232 i VDA 19. Pomiary można wykonywać z dużą dokładnością dzięki zaawansowanym możliwościom obrazowania mikroskopu. Możliwe są pomiary obiektów o wielkości nawet 1 µm.

INDEKS