Részecske / Tisztaságvizsgálat
A minőségügyi követelmények fokozódása miatt az idegen részecskék miatti szennyeződés megelőzése a gyártási folyamat során egyre fontosabbá válik.
- Megvilágítási módszerek
- Részecske / Tisztaságvizsgálat
- Kvantitatív elemzés az idegen részecskék vizsgálatával
Megvilágítási módszerek
A megfelelő fényerősségű és nagy felbontású lencsék mellett a megvilágítás helyes kiválasztása is nagyon jelentős szerepet játszik. Gyűrűs megvilágítás és koaxiális megvilágítás is használható a tárgy nagyobb részletességű vizsgálatához. Ha digitális mikroszkóp használatával olyan tárgyakon végeznek részecske/tisztaságvizsgálatot, amelyek kevéssé tükrözik vissza a fényt, vagy áttetszőek, jó választás lehet az átmenőfényes megvilágítás. Ha nagyobb a fényvisszaverő képesség, ami fényességet okoz, a diffúz megvilágítás segíthet egyértelműen megkülönböztetni a részecskéket/szennyeződést a céltárgytól. A megvilágítás irányának megváltoztatása gyakran hasznos, amikor az idegen részecskéket részleges megvilágítással teszik láthatóvá. A polarizált megvilágítás pedig akkor nyújthat segítséget, ha a céltárgyat csak egy átlátszó tárgyon keresztül lehet vizsgálni.
- A
- Fényforrás
- B
- Lencse
- C
- Céltárgy
- D
- Féltükör
- A
- Fényforrás
- B
- Lencse
- C
- Céltárgy
- D
- Csiszolt üvegszűrő
A KEYENCE digitális mikroszkóp többszörös megvilágítási funkcióval rendelkezik, amely a rögzített kép minden megvilágítási adatát elmenti. Ez lehetővé teszi, hogy a kép megvilágítását bármikor módosítsák, anélkül, hogy új képet kellene rögzíteni a céltárgyról.
A KEYENCE digitális mikroszkóp gyűrűs tükröződéscsökkentő funkciójával pontosabban lehet elvégezni a részecske/tisztaságvizsgálatot.
Részecske / Tisztaságvizsgálat
A KEYENCE változtatható szögű megfigyelésével a felhasználók precízen meghatározhatják, hogy vannak-e idegen részecskék a felületen vagy az alatt. Ez megkönnyíti a vizsgálatot, és a potenciális megoldásokat gyorsan kidolgozhatják.
A 3D-s képalkotás idegen részecskékről a megoldások azonosításának másik eszköze. Az elemzés során a 3D-s adatok segítségével meghatározható, hogy a problémát egy karcolás vagy idegen részecskékkel való szennyeződés okozza.
Kvantitatív elemzés az idegen részecskék vizsgálatával
Az idegen részecskék vizsgálatát és rögzítését követően a KEYENCE digitális mikroszkóp 2D-s és 3D-s mérési funkciók széles választékát kínálja, amelyeket valós időben lehet elvégezni, azután pedig szövegszerkesztő vagy táblázatkezelő programmal jelentést lehet exportálni.
A KEYENCE digitális mikroszkóp az ISO 16232 és VDA 19 szabvány szerinti részecske/tisztaságvizsgálatot végez. A méréseket nagyon pontosan lehet végrehajtani a mikroszkóp fejlett képalkotási képességeinek köszönhetően, és akár 1 µm-es nagyságrendben is lehet mérni.
