Voor platering met een hoge functionaliteit is kwaliteitsborging door bijvoorbeeld vormgevingsinspectie nodig. In dit gedeelte wordt een overzicht gegeven van de plateringdefecten die van invloed zijn op de kwaliteit en functies, en worden de symptomen en oorzaken van dergelijke effecten uiteengezet.
In dit gedeelte worden ook nieuwe voorbeelden gegeven van het inspecteren op plateringdefecten en van probleemoplossingen met de nieuwste 4K digitale microscoop van KEYENCE.

Typen en oorzaken van plateringdefecten en oplossingen voor problemen tijdens waarnemingen en evaluaties

Typen en oorzaken van plateringdefecten

Platering wordt veelvuldig gebruikt voor de bewerking van oppervlakken van diverse vormen en materialen, waaronder metaal, kunststof en keramiek. Het bedekken van materiaaloppervlakken met een coating in de juiste dikte kan niet alleen een decoratieve effect toevoegen, maar ook diverse functies zoals slijtvastheid, corrosiebestendigheid, hittebestendigheid, chemische weerstand, elektrisch geleidingsvermogen, smeereigenschappen en hechtingseigenschappen. Tegelijkertijd kunnen eventuele plateringdefecten in plateringprocessen de kwaliteit en kenmerken van materialen en producten sterk beïnvloeden.
Hieronder staan de volgende drie voornaamste typen plateringdefecten die zich kunnen voordoen in metalen plateringen, en de symptomen en oorzaken van dergelijke effecten.

Onvoldoende hechting: afbladderen, blaarvorming

Symptomen die kunnen worden waargenomen wanneer de hechting aan een substraatoppervlak om een of andere reden is verminderd en de platering zich dus niet goed genoeg aan het oppervlak kan hechten. Platering die zich stevig aan het oppervlak heeft gehecht, kan ook gaan afbladderen of blaarvorming gaan vertonen wanneer dat oppervlak tijdens de nabewerking wordt gebogen als gevolg van verschillen in flexibiliteit tussen het substraat en de platering.

Defecten door het hechten van vreemde deeltjes: ruw oppervlak

Dit symptoom kan worden waargenomen wanneer fijne uitsteeksels ontstaan bij het nat plateren van oppervlakken. Ook doet dit symptoom zich voor wanneer vreemde deeltjes (metalen deeltjes) die in een plateringbad drijven, zich met de plateringlaag vermengen.

Ontbrekende afzetting: vlekken, oneffenheid, putjes, pingaten

De meeste "ongelijke helderheid" en "vlekken" op plateringoppervlakken ontstaan wanneer de oppervlakken gedeeltelijk zijn beslagen of aangetast door diverse factoren, zoals bepaalde omgevingen. Deze symptomen ontstaan door ongelijke ruwheid of onvoldoende ontvetting van het materiaaloppervlak of door verschillen in de plateringprocedés.

Links: putje, rechts: pingat (A. plateringlaag, B. onedel materiaal)
Links: putje, rechts: pingat
(A. plateringlaag, B. onedel materiaal)

Zowel putjes als pingaatjes zijn holle defecten op geplateerde oppervlakken. Deze defecten worden veroorzaakt door een ontbrekende afzetting. Een putje is een zichtbaar (macroscopisch) gat dat niet in een plateringlaag zit, terwijl een pingat microporeus is en doordringt in een onedel metaal of een lagere laag. Pingaatjes kunnen secundaire fouten en defecten veroorzaken, zoals "blaarvorming" en "corrosie" van plateringlagen.
Om goed te kunnen bepalen of een defect een putje of een pingat is, zijn er behalve 2D-beelden ook gegevens over de Z-richting nodig (laagdikte en gatdiepte).

Inspectievoorbeelden van plateringdefecten met de 4K digitale microscoop

Platering dat materiaaloppervlakken niet alleen een decoratief maar ook een functioneel effect geeft, heeft een grote invloed op de functionaliteit, de uitvoering en de duurzaamheid van de producten en op de kwaliteit van de vorm. De laatste jaren is de functionaliteit van platering bovendien aanzienlijk verbeterd, waardoor een meer geavanceerde foutenanalyse en evaluatie van de betrouwbaarheid nodig zijn.
Plateringlagen zijn echter dun en glanzend en de meeste onvolkomenheden op dergelijke lagen zijn microscopisch klein en driedimensionaal. Inspecties met meetinstrumenten of 2D-beelden leveren diverse problemen op wanneer het erom gaat een betrouwbare kwaliteit van de platering te kunnen garanderen.

De high-definition 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks van KEYENCE heeft een lens met hoge resolutie en geavanceerde technologieën, zoals 4K CMOS, waardoor met heldere 4K-beelden plateringlagen nauwkeurig kunnen worden waargenomen en geanalyseerd.
De VHX-reeks ondersteunt ook 2D-metingen en 3D-vorm- en -profielmetingen, zelfs op vergrote beelden, zodat de procedures voor het controleren en waarborgen van de kwaliteit bij inspecties van plateringdefecten gemakkelijk en snel met één apparaat kunnen worden uitgevoerd.
In dit gedeelte staan de nieuwste inspectievoorbeelden van plateringdefecten met de VHX-reeks.

Verkleuring en corrosie op platering

Waarnemen en meten van de verkleuring en corrosie van de platering met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Geplateerde connector (200×)
Geplateerde connector (200×)
Geplateerde connector (1500×)
Geplateerde connector (1500×)
3D-vorm- en -profielmeting (1500×)
3D-vorm- en -profielmeting (1500×)

Pingat in plateringlagen

Meting van een pingat op een plateringlaag met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
3D-vorm- en -profielmeting ingeschakeld op een vergroot beeld met gebruikmaking van de hoogtegegevens van het pingat
3D-vorm- en -profielmeting ingeschakeld op een vergroot beeld met gebruikmaking van de hoogtegegevens van het pingat

Afbladderen van platering

Inspectie van microscopische afbladdering van platering met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Sterk vergrote waarneming en meting op submicrongrootte mogelijk dankzij 4K-beelden met hoge resolutie
Sterk vergrote waarneming en meting op submicrongrootte mogelijk dankzij 4K-beelden met hoge resolutie
Sterk vergrote waarneming van het afbladderen van platering op een onderdeel van een endoscoop
Sterk vergrote waarneming van het afbladderen van platering op een onderdeel van een endoscoop

Barstjes in platering

HDR-beeldopname van barstjes met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Normaal
Beeld zonder HDR en dieptecompositie
Beeld met HDR en dieptecompositie
Beeld met HDR en dieptecompositie
Met de HDR-beeldopnamefunctie en dieptecompositie is heldere beeldopname met hoge kleurgradatie en contrast mogelijk.

Analyse van oppervlakteruwheid (hechten van vreemde deeltjes)

Analyse van oppervlakteruwheid (hechten van vreemde deeltjes) met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Sterk vergrote waarneming en 2D-meting op submicrongrootte van vreemde deeltjes die voor een ruw oppervlak zorgen
Sterk vergrote waarneming en 2D-meting op submicrongrootte van vreemde deeltjes die voor een ruw oppervlak zorgen

Diktemeting van plateringlagen (monster ingebed in hars)

Diktemeting van plateringlagen met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Sterk vergrote waarneming en meting van laagdikte op submicrongrootte van het dwarsdoorsnede-oppervlak van platering dat is ingebed in hars
Sterk vergrote waarneming en meting van laagdikte op submicrongrootte van het dwarsdoorsnede-oppervlak van platering dat is ingebed in hars

Voorbeelden van problemen tijdens plateringinspecties die zijn opgelost met de 4K digitale microscoop van KEYENCE

Vergrote waarneming van, foutenanalyse van en metingen op geplateerde oppervlakken zijn moeilijk en zorgen voor veel problemen.
In dit gedeelte worden voorbeelden gegeven van problemen tijdens inspecties van de platering met de nieuwste 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks van KEYENCE.

Scherpe beeldopname van plateringoppervlakken, zelfs bij een sterke vergroting

Met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks

De lens met hoge resolutie en 4K CMOS zorgen voor een grote scherptediepte, zelfs bij zeer sterk vergrote waarnemingen. Zelfs bij een sterke vergroting is een heldere waarneming mogelijk die niet wordt beïnvloed door onregelmatigheden op geplateerde oppervlakken.

Waarneming van een geplateerd oppervlak met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Verguld oppervlak (1000×)
Verguld oppervlak (1000×)

Haarscherpe beelden en moeiteloos zoomen

Met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks

Met real-time dieptesamenstelling kunnen gebruikers heldere beelden maken van doelen met onregelmatigheden in het oppervlak. Zo kan er sneller worden scherpgesteld en kan het gehele doel worden bekeken waardoor er effectiever kan worden waargenomen en geanalyseerd.

Waarneming van platering met de dieptecompositie van de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Conventionele microscoop
Geen dieptecompositiefunctie
Dieptecompositie met de VHX-reeks
Dieptecompositie met de VHX-reeks

De lens met hoge resolutie en de gemotoriseerde draaischijf die op de VHX-reeks is gemonteerd, maken naadloos zoomen tussen 20× en 6000× mogelijk zonder dat de lens hoeft te worden vervangen.
Het scherpstellen met een lens wordt overeenkomstig de vergroting automatisch gewijzigd waardoor er snel kan worden gezoomd. Efficiënt gegevensbeheer is ook mogelijk omdat de informatie van de lens en de vergroting samen met het opgenomen beeld worden vastgelegd.

A. Lens met hoge resolutie B. Gemotoriseerde draaischijf
  1. A. Lens met hoge resolutie
  2. B. Gemotoriseerde draaischijf

3D-vorm- en -profielmeting mogelijk bij vergrote waarneming

Met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks

Dankzij de verschillende menu's kunnen 3D-vormen en profielen heel eenvoudig worden gemeten.
Met 3D-vorm- en -profielmetingen kunnen doelen kwantitatief worden onderzocht en kan worden bepaald of een onvolkomenheid een vreemd deeltje, putje of een pingat is. Bewerkingen van vergrote waarnemingen tot 2D-/3D-metingen kunnen effectief worden uitgevoerd met één enkel apparaat uit de VHX-reeks.

Waarneming van een geplateerd oppervlak met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
3D-vorm- en -profielmeting op een ruw plateringoppervlak
3D-vorm- en -profielmeting op een ruw plateringoppervlak

Kwantitatieve evaluatie met automatische gebiedsmeting

Met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks

Met de functie voor het automatisch meten van gebieden kunnen heel gemakkelijk het gebied, de kristalkorrelgrootte en het aantal korrels in een bepaald gebied worden gemeten. Bovendien kunnen meetresultaten heel eenvoudig en met één enkel apparaat binair worden verwerkt, in een lijst en histogram worden weergegeven en als rapport worden uitgevoerd.

Automatische gebiedsmeting met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
Meting van de mate van corrosie op de platering (150×)
Meting van de mate van corrosie op de platering (150×)
Kristallen (100×)
Kristallen (100×)
Binaire verwerking (lijst en histogram van meetresultaten)
Binaire verwerking (lijst en histogram van meetresultaten)

Optimale vormgevingswaarneming van vergulde oppervlakken door schakelen van verlichting

Met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks

Met de multiverlichtingsfunctie kunnen gebruikers onder verschillende verlichtingscondities onmiddellijk beelden vastleggen en selecteren en effectief vergulde oppervlakken die afhankelijk van de verlichting er anders kunnen uitzien, effectief analyseren en evalueren.
Beelden die onder verschillende verlichtingscondities zijn gemaakt, kunnen naast elkaar worden weergegeven. Dit is een functie waarmee gebruikers soepele analyses en evaluaties met een uitgebreide beoordeling kunnen uitvoeren.

Vormgevingsvergelijking onder verschillende verlichtingscondities met de 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks
A. Coaxiale verlichting B. Ringverlichting C. Coaxiale gedeeltelijke verlichting D. Gemengde verlichting
  1. A. Coaxiale verlichting
  2. B. Ringverlichting
  3. C. Coaxiale gedeeltelijke verlichting
  4. D. Gemengde verlichting

Met een enkele eenheid worden de inspecties en evaluaties voor plateren geavanceerder en gestroomlijnder.

De high-definition 4K digitale microscoop uit de VHX-reeks van KEYENCE maakt gebruik van scherpe 4K-beelden waarmee de waarneming, analyse en kwantitatieve evaluatie van plateringdefecten veel beter kunnen worden gestroomlijnd, wat met conventionele microscopen vrijwel onmogelijk is. Ook kunnen met deze microscoop naadloos 2D-/3D-metingen en binaire metingen worden uitgevoerd en rapporten worden gegenereerd, wat voorheen niet mogelijk was.

De VHX-reeks heeft behalve de functies die in dit gedeelte aan de orde zijn gekomen, nog een groot aantal andere nuttige functies.
Klik voor meer informatie over de VHX-reeks op de onderstaande knop om te catalogus te downloaden. Klik voor vragen op de andere onderstaande knop of neem contact op met KEYENCE.