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La hauteur est mesurée par détection de la position de la surface supérieure d'une cible. Dans le cas de cibles dont la surface inférieure varie, le profil est directement mesuré à l'aide de deux capteurs ou d'un laser ligne.
La position de la surface supérieure d'une cible est détectée.
La capacité de la série LJ à réaliser des mesures de profil 2D sans contact permet de mesurer une différence de hauteur par rapport à un plan de référence sur la cible.
La position de la surface supérieure d'une cible est détectée.
Un échantillonnage sans contact est réalisé à haute vitesse, permettant une mesure stable indépendamment du mouvement de la cible.
La capture de la silhouette d'une cible permet au capteur de détecter toute position. Une mesure simultanée en plusieurs points est également possible.
La position de la surface supérieure d'une cible est détectée.
Le système à contact permet une mesure de haute précision.
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