Une nouvelle ère du contrôle haute résolution

NOUVEAU Caméras ultra-haute résolution Série CV-X/XG-X

MESURES INSTANTANÉES

NOUVEAU Système de mesure dimensionnelle par imagerie Série IM-8000

L’interféromètre à lumière blanche intégré permet une mesure du millimètre au nanomètre sans zone morte

Microscope à balayage laser 3D Série VK-X3000

3200 points/profil

Mesure en ligne haute résolution

NOUVEAU Profilomètre laser 2D/3D Série LJ-X8000

Visualisation de l'élimination statique et du dépoussiérage

NOUVEAU Éliminateurs d'électricité statique compacts à amplificateur intégré