KEYENCE inspectieproducten

Digitale microscopen bevatten observatie-, beeldregistratie-, meetmogelijkheden en bieden een interface op het scherm voor het bekijken van objecten. De VHX heeft superieure beeldverwerkingsmogelijkheden die geavanceerde analyse mogelijk maken. Dit systeem biedt een hoge scherptediepte, vergroting van 0.1 tot 5000x en multi-angle observatie. 

Real-time 2D / 3D-metingen kunnen worden uitgevoerd met de gevorderde meetmogelijkheden van de VHX. Elke gebruiker kan op eenvoudige wijze nauwkeurige metingen uitvoeren, ongeacht de ervaring.

Met een dubbele scan inspecteert de confocale laser microscoop, de VK-X, ruwheid en nanostructuren van alle soorten oppervlaktes en materialen. U kunt uw onderdelen met één knopdruk observeren, meten en analyseren met een 0,5 nanometer resolutie.

Hoogwaardige optische beelden worden gecombineerd met 16-bits laserinformatie voor een haarscherpe observatie. Meet volledige oppervlaktes met gecertifiëerde en traceerbare nauwkeurigheid in XYZ op basis van zowel focusvariatie als laserpunt hoogtebepaling.

Een contactloos 3D-meetsysteem dat snel en nauwkeurig brede gebieden  kan meten. Perfect geschikt voor het meten van profiel, ruwheid, vlakheid, slijtage en voor het vergelijken van 3D-scangegevens met CAD-bestanden, om de kwaliteit van een onderdeel te bepalen. 

Hoe werkt het? Gestructureerd licht wordt door meerdere dubbele telecentrische lenzen geprojecteerd, om vertekening tegen te gaan en zo nauwkeurig mogelijk gegevens te ontvangen.

Het Instant Measurement-systeem, de IM-serie, is een visueel inspectiesysteem dat metingen verricht in vervanging van optische comparatoren, schuifmaten, micrometers, meetmicroscopen en coördinatenmeetmachines (CMM's). Met dit systeem kunt u, met één simpele druk op de knop, in slechts 3 seconden 99 waarden opmeten voor maximaal 100 stuks met OK/NG als beoordeling, om zo de meettijd aanzienlijk te verminderen. De inspectierapporten worden automatisch gegenereerd en opgeslagen.