Een nieuw tijdperk van inspectie met hoge resolutie

NIEUW Camera's met ultrahoge resolutie CV-X/XG-X Reeks

DIRECTE METING

NIEUW Optisch meetsysteem IM-8000 Reeks

De ingebouwde wit licht interferometer maakt metingen van millimeters tot nanometers mogelijk, zonder blinde vlekken

3D-laserscanmicroscoop VK-X3000 Reeks

3200 punten/profiel

Inline meting op hoge resolutie

NIEUW 2D-/3D-laserprofielmeter LJ-X8000 Reeks

Visualisatie van eliminatie van statische elektriciteit en het verwijderen van stof

NIEUW Compacte ionisatoren met ingebouwde versterker