DIRECTE METING

NIEUW Optisch meetsysteem IM-8000 Reeks

De ingebouwde wit licht interferometer maakt metingen van millimeters tot nanometers mogelijk, zonder blinde vlekken

3D-laserscanmicroscoop VK-X3000 Reeks

3200 punten/profiel

Inline meting op hoge resolutie

NIEUW 2D-/3D-laserprofielmeter LJ-X8000 Reeks

Visualisatie van eliminatie van statische elektriciteit en het verwijderen van stof

NIEUW Compacte ionisatoren met ingebouwde versterker

Built-In Vision.
Autofocus Anywhere.
Data-Driven Analytics.

NEW 3-Axis Hybrid Laser Marker MD-X Series