Laser Scanning Microscope
Een lasermicroscoop die het geplaatste monster automatisch meet met één druk op de knop. Dit product voldoet aan allerlei behoeften op het gebied van waarneming, meting en analyse, met waarnemingsmogelijkheden die uiteenlopen van de mogelijkheden van een optische microscoop tot die van een SEM, meetmogelijkheden voor onmiddellijke en nauwkeurige scans van de profielen van verschillende doelen en een uitgebreide set analysetools.
Producten
De VK-X4000-reeks 3D-optische profileringsmicroscoop combineert laserconfocale, witlichtinterferometrie- en focusvariatiemethoden in één enkel meetsysteem, waardoor uiterst nauwkeurige, contactloze metingen op vrijwel elk materiaal en elke oppervlaktegeometrie mogelijk zijn. De nieuw ontwikkelde meerpuntsmeetfunctie stroomlijnt het analyseproces verder door metingen op meerdere locaties en monsters te automatiseren. Dit elimineert complexe instellingen of programmering en zorgt voor een grotere gebruiksvriendelijkheid, doorvoer en herhaalbaarheid.
Kenmerken
Drie meetprincipes in één systeem: Ongeëvenaarde 3D-precisie voor elk oppervlak, elk materiaal en elke geometrie
Laser confocaal
Meet elk materiaal, elke vorm.
Witlichtinterferometrie
Leg 3D-oppervlaktegegevens nauwkeurig vast met een resolutie van minder dan een nanometer.
Focusvariatie
Meet fijne oppervlaktedetails over een groot oppervlak.
Meerpuntsscan voor eenvoudige en geautomatiseerde 3D-metingen
Meting van meerdere punten op meerdere locaties
Configureer eenvoudig de positie, coördinaten en vergrotingsinstellingen door op het te meten punt te klikken.
Automatische meting van meerdere doelen
Geconfigureerde meetinstellingen kunnen eenvoudig worden toegepast op meerdere doelen.