3D-laserscanmicroscoop VK-X4000-reeks

Meet elk 3D-oppervlak met vertrouwen

Drie geïntegreerde principes dekken al uw 3D-meetbehoeften

3 meetprincipes in 1 systeem
Automatisch meerdere gebieden op meerdere onderdelen meten
AI-Analyzer bepaalt eenvoudig de belangrijkste oppervlakteverschillen voor u

VK-X4000-reeks - 3D-laserscanmicroscoop

De VK-X4000-reeks 3D-optische profileringsmicroscoop combineert laserconfocale, witlichtinterferometrie- en focusvariatiemethoden in één enkel meetsysteem, waardoor uiterst nauwkeurige, contactloze metingen op vrijwel elk materiaal en elke oppervlaktegeometrie mogelijk zijn. De nieuw ontwikkelde meerpuntsmeetfunctie stroomlijnt het analyseproces verder door metingen op meerdere locaties en monsters te automatiseren. Dit elimineert complexe instellingen of programmering en zorgt voor een grotere gebruiksvriendelijkheid, doorvoer en herhaalbaarheid.

Kenmerken

Drie meetprincipes in één systeem: Ongeëvenaarde 3D-precisie voor elk oppervlak, elk materiaal en elke geometrie

Laser confocaal

Meet elk materiaal, elke vorm.

Witlichtinterferometrie

Leg 3D-oppervlaktegegevens nauwkeurig vast met een resolutie van minder dan een nanometer.

Focusvariatie

Meet fijne oppervlaktedetails over een groot oppervlak.

Meerpuntsscan voor eenvoudige en geautomatiseerde 3D-metingen

Meting van meerdere punten op meerdere locaties

Configureer eenvoudig de positie, coördinaten en vergrotingsinstellingen door op het te meten punt te klikken.

Automatische meting van meerdere doelen

Geconfigureerde meetinstellingen kunnen eenvoudig worden toegepast op meerdere doelen.

Automatische ruwheidsanalyse

De Ra-waarde is hetzelfde, maar de oppervlakken zien er anders uit.
Verschillende ruwheidsparameters worden vergeleken om direct het belangrijkste verschil te bepalen.

Ra: 2,3 µm

Ra en Rz zijn twee van de meest voorkomende ruwheidsparameters, maar er zijn ook tal van andere parameters.
Met AI-ANALYZER kan snel en eenvoudig bepaald worden welke ruwheidsparameter het beste is voor een specifiek doel.

Meet platte en ongelijkmatige oppervlakken bij lage en hoge vergrotingen

Meetprestaties voor de waarneming van uiteenlopende doelen.