Microscopen
Geavanceerde microscopen voor industriële en levenswetenschap-toepassingen.
De reeks
Dit product is niet alleen voorzien van een 4K CMOS-beeldsensor die resolutie levert en een 4K-compatibele lens, maar ook van een diep-contrastfunctie waarmee subtiele oppervlakteomstandigheden duidelijk kunnen worden waargenomen. Met het volledige besturingssysteem kunnen alle gebruikers intuïtieve handelingen uitvoeren. Dit gloednieuwe microscoopsysteem ondersteunt een uitgebreide reeks analysewerkzaamheden met diverse aanpasbare functies, waaronder de vormgevingscontrole (die verschillen automatisch in een oogwenk identificeert), de grote 300 mm tafel (9 keer groter analysebereik dan voorgaande KEYENCE modellen) en de lensrevolver (die is uitgerust met lenzen met hoge resolutie die compatibel zijn met metallurgische microscopen).
Dit aanpasbare model dat gebaseerd is op de kernfunctionaliteit van de VHX-serie van bekijken, vastleggen en meten, biedt selecteerbare specificaties voor verschillende toepassingen.
Optische 4K-microscoop met ultrahoge resolutie en een geavanceerd meetsysteem voor inspectie en foutanalyse, die eenvoudig in gebruik is.
Introductie van een elementaire analyserkop voor gebruik met microscopen van de VHX-reeks. Plaats eenvoudig het doel op de objecttafel om elementen te analyseren, zonder dat vernietigende monster voorbereiding, afzetting of vacuüm nodig is voor monstervoorbereiding. Dankzij de op AI gebaseerde suggesties kan ook iedereen stoffen identificeren via elementaire analyse.
De 3D Surface Profiler VK-X3000-reeks gebruikt een drievoudige scanaanpak waarbij, afhankelijk van de situatie, scanmethoden met de confocale laser, focusvariatie of wit licht interferometrie worden gebruikt, wat resulteert in uiterst nauwkeurige metingen en analyses van uiteenlopende doelen. De maximumresolutie van 0,01 nm zorgt ervoor dat vormvariaties op nanometerniveau nauwkeurig kunnen worden gemeten. Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden. Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden. Deze gloednieuwe laserscanmicroscoop kan elk doel meten, ongeacht de vergroting (hoog of laag), de oppervlakteruwheid (platte/ongelijkmatige oppervlakken) en transparante/spiegelende oppervlakken.