3D-laserscanmicroscoop VK-X3000-reeks

De 3D Surface Profiler VK-X3000-reeks gebruikt een drievoudige scanaanpak waarbij, afhankelijk van de situatie, scanmethoden met de confocale laser, focusvariatie of wit licht interferometrie worden gebruikt, wat resulteert in uiterst nauwkeurige metingen en analyses van uiteenlopende doelen. De maximumresolutie van 0,01 nm zorgt ervoor dat vormvariaties op nanometerniveau nauwkeurig kunnen worden gemeten. Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden. Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden. Deze gloednieuwe laserscanmicroscoop kan elk doel meten, ongeacht de vergroting (hoog of laag), de oppervlakteruwheid (platte/ongelijkmatige oppervlakken) en transparante/spiegelende oppervlakken.