3D-laserscanmicroscoop VK-X3000-reeks

De ingebouwde wit licht interferometer maakt metingen van millimeters tot nanometers mogelijk, zonder blinde vlekken

VK-X3000-reeks - 3D-laserscanmicroscoop

De 3D Surface Profiler VK-X3000-reeks gebruikt een drievoudige scanaanpak waarbij, afhankelijk van de situatie, scanmethoden met de confocale laser, focusvariatie of wit licht interferometrie worden gebruikt, wat resulteert in uiterst nauwkeurige metingen en analyses van uiteenlopende doelen. De maximumresolutie van 0,01 nm zorgt ervoor dat vormvariaties op nanometerniveau nauwkeurig kunnen worden gemeten. Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden. Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden. Deze gloednieuwe laserscanmicroscoop kan elk doel meten, ongeacht de vergroting (hoog of laag), de oppervlakteruwheid (platte/ongelijkmatige oppervlakken) en transparante/spiegelende oppervlakken.

Kenmerken

Basiskenmerken

Waarneming

Uitgebreid vergrotingsbereik in één apparaat

  • Vergroting 42x tot 28.800x
  • Automatische scherpstelling
  • Bekijk elk materiaal

Meting

Directe, contactloze oppervlaktescans

  • Geen schade aan het doel
  • Nauwkeurige meting op nanoniveau
  • Compatibel met elke vorm of materiaal

Analyse

Ongekende kenmerking van oppervlaktes

  • Kwantificering, zelfs van de meest gedetailleerde vormen
  • Gemakkelijk onderscheid maken tussen oppervlakken
  • Ruwheidsanalyse

Meet alles met de drievoudige scanaanpak

Wit licht interferometrie / Confocale laser / Focusvariatie

Er zijn drie verschillende scanmethoden beschikbaar: confocale laser, focusvariatie en wit licht interferometrie. Afhankelijk van het doelmateriaal, de vorm en het meetbereik wordt de beste methode gekozen, wat uiterst nauwkeurige metingen oplevert.

Maximumresolutie van 0,01 nm

Vormvariaties op nanometerniveau kunnen nauwkeurig worden gemeten.
Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden.

Meet grote gebieden en ongelijkmatige oppervlakken met grote hoogteverschillen

Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden.

Meet platte en ongelijkmatige oppervlakken bij lage en hoge vergrotingen

Meetprestaties voor de waarneming van uiteenlopende doelen.