Microscoop voor ruwheidsmetingen met
nauwkeurige oppervlakte analyse

Een laserscan microscoop kan oppervakte analyse, profiellijn- en filmdiktemeeting uitvoeren zonder taster, dit over een volledig oppervlak met nanometrische resolutie op eender welk materiaal of vorm.

De VK-X3000 berekent niet enkel lijnruwheden (ISO 4287), maar ook oppervlakteruwheden  (ISO 25178). De VK-X3000 gebruikt een unieke functie dat automatisch meerdere onderedelen vergelijkt aan de hand van 47 ruwheidsparameters. Ruwheidsmetingen zijn mogelijk van meerdere microns groot tot zo klein als enkele nanometers.

Door het combineren van wit licht met laser bron, kunnen confocale laserscan microscopen oppervlakken scannen en zowel een hoge resolutie optisch beeld als nauwkeurig textuurdata creëren. Nanometrische hoogteverschillen kunnen worden opgemeten door de weerkaatste laserintensiteit te analyseren relatief tot z-positie van de laser.

Plaats uw onderdeel simpelweg op de microscooptafel, klik op "meten" en de VK-X3000 zal automatisch uw onderdeel scannen en meten. Onze geavananceerde analysesoftware zal automatisch de data analyseren en de belangrijkste ruwheidsparameter aanbevelen om te evalueren.