• VK-X

  • Lasermicroscoop vs. wit licht interferometrie

    • Meet over een 50mm oppervlak met nanometer resolutie
    • Geen datagebrek op complexe oppervlakken
    • Onafhankelijk van materiaal of vorm
    • Volledig geautomatiseerde metingen an analyse
  • Geen ontbrekende data

    Bij wit licht interferometrie ontbreekt er vaak data op onderdelen met scherpe of golvende oppervlakken, hierdoor maken gebruikers veronderstellingen over hun onderdelen. De VK-X kan informatie verkrijgen op bijna verticale oppervlakken. Gebruikers kunnen hiermee geïnformeerde beslissingen nemen over hun onderdelen.

  • Kleuren foto's

    De VK-X kan volledig scherpgestelde, hoge resolutie beelden vastleggen, wat niet mogelijk is met een wit licht interferometer. Met een vergroting tot 28.000x kunnen beelden verkregen worden met een resolutie vergelijkbaar met een SEM.

  • Materiaal onafhankelijk

    Wit licht interferometers hebben moeite met het opmeten van doorschijnende oppervlakken of oppervlakken die moeilijk licht reflecteren. Het soort materiaal heeft voor een lasermicroscoop geen effect, wat metingen mogelijk maakt op hoog weeerspiegelende, matte en transparante materialen.

  • Gebruiksvriendelijkheid

    Plaats uw onderdeel simpelweg op de microscooptafel, klik op "meten" en de VK-X1000 zal automatisch uw onderdeel scannen en meten, zonder voorbereiding of het waterpas plaatsen van uw onderdeel.

  • Wit licht interferometer datagebrek

  • VK-X volledige oppervlak data

  • Interferometer - Inkt op papier

  • VK-X - Inkt op papier

Leer bij over de voordelen van de VK-X!

AANBEVOLEN ITEMS

VK-X Reeks Confocale 3D-laserscanmicroscoop Catalogus

VK-X Reeks Confocale 3D-laserscanmicroscoop Catalogus
  • [Bestand type]PDF:5.59MB

Aanmelden of registreren

* vereist

Registreren

Stap 1/

We konden geen bestaande KEYENCE-account vinden met het door u ingevulde e-mailadres. Vul het onderstaande registratieformulier in om verder te gaan. U hoeft dit formulier in de toekomst niet meer in te vullen.

* vereist

* vereist

* vereist