Unité d’analyse élémentaire par laser Série EA-300

Nouveau Observer et identifier instantanément les matériaux

  • Analyse élémentaire en un clic
  • Placez et mesurez sans préparation
  • Détection facile des substances accessible à tout utilisateur

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Série EA-300 - Unité d’analyse élémentaire par laser

Présentation d’une tête d’analyse élémentaire associable aux microscopes Série VHX-7000. Il vous suffit de placer la cible sur la platine pour analyser les éléments sans destruction, dépôt ni vide. Les suggestions basées sur l’IA mettent l’analyse élémentaire de n'importe quelle substance à la portée de tout utilisateur.

Caractéristiques

Identifiez toute substance directement sur votre microscope

Il suffit de placer et d’analyser

L’analyse élémentaire s’exécute d’un simple clic. Passez de l’observation sous grossissement à l’analyse élémentaire sans avoir à manipuler l’objectif laser ni ajuster la mise au point.

Placez et mesurez sans préparation

Laser nanoseconde / Formation de plasma

Exécutez une analyse sans altération ni destruction sur des cibles de toutes dimensions.
Aucune mesure de conductivité ni aucun vide n’est requis.

Détection facile des substances accessible à tout utilisateur

Les éléments détectés sont analysés.
La substance la plus probable est rapidement suggérée.

Une fonction d’IA intégrée vous suggère la nature la plus probable du matériau analysé.
La base de données peut également servir à collecter les résultats des analyses précédemment réalisées en interne, de sorte à pouvoir vous y référer lorsque des corps étrangers similaires sont détectés.