Lecture d'ID de cadre

Dans le processus de fabrication des semi-conducteurs, la lecture précise de l'ID du cadre marqué sur un anneau de wafer (cadre de découpe) est cruciale pour garantir la traçabilité et un contrôle qualité approfondi.

Cependant, un problème courant était que les codes d'identification se rayaient ou s'éraflaient lorsque les anneaux étaient empilés pour le stockage et le transport, ce qui entraînait de fréquentes erreurs de lecture avec les lecteurs de codes conventionnels. Ces échecs de lecture sont un problème grave qui entraîne directement des arrêts de la ligne de production et une diminution du rendement.

Le lecteur de codes 1D/2D de la Série SR-2000 de KEYENCE résout ce problème. Équipé d'un algorithme de lecture propriétaire de pointe et de puissantes fonctions de correction d'image, il peut lire instantanément et de manière stable même les codes difficiles dans des conditions défavorables telles que les rayures, la saleté et le faible contraste. Cela réduit considérablement le risque d'arrêts de ligne dus à des erreurs de lecture et contribue grandement à l'amélioration de la productivité.

De plus, la Série SR-2000 prend en charge un champ de vision ultra-large et une lecture à longue portée, ce qui lui permet de capturer de manière fiable les ID même dans des environnements où la distance et la position de la cible peuvent varier. Sa grande liberté d'installation facilite son intégration sur des équipements existants, permettant une gestion précise des articles individuels et une traçabilité améliorée dans la fabrication de semi-conducteurs.