Industrie des composants électroniques
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Observation et mesure de bobines au microscope numérique -
Observation et mesure de semi-conducteurs de puissance (dispositifs d’alimentation) au microscope numérique -
Observation de LED avec un microscope numérique -
Analyse des défaillances et des défauts des circuits imprimés -
Types et causes des défauts de placage et solutions aux problèmes d’observation et d’évaluation -
Observation et évaluation quantitative de faisceaux électriques et connecteurs sertis -
Causes, observation et mesure des problèmes relatifs aux connecteurs, tels qu’un défaut de continuité -
Observation et mesure au microscope de wafers de semi-conducteurs et de motifs de circuit intégré -
Observation et mesure de fissures de brasure et de manques matière -
Causes des moustaches d’étain, essais de croissance et solutions aux problèmes d’observation et d’évaluation -
Derniers exemples d’observation et d’analyse des batteries lithium-ion et nouvelle génération -
Observation et analyse pour l’évaluation de cellules solaires -
Observation et mesure 3D des conditions d’application de crème à braser -
Observation et mesure de trous traversants et de plots sur circuits imprimés nus -
Observation et mesure de cartes à pointes et de sondes à contact -
Observation et mesure de boîtiers BGA avec un microscope numérique -
Observation et mesure de connexion par fils avec un microscope numérique
