3D optikai profilmérő mikroszkóp VK-X4000 sorozat

A VK-X4000 sorozatú 3D optikai profilmérő mikroszkóp egyetlen metrológiai rendszerben egyesíti a lézeres konfokális mérést, a fehérfény-interferometriát és a fókuszvariációs módszereket, lehetővé téve a nagy pontosságú, érintésmentes méréseket szinte bármilyen anyagon és felületi geometrián. Az újonnan kifejlesztett többpontos mérési funkció tovább egyszerűsíti az elemzési folyamatot azáltal, hogy automatizálja a méréseket több helyen és mintán, kiküszöbölve a bonyolult beállításokat vagy programozást, miközben nagyobb használhatóságot, áteresztőképességet és ismételhetőséget biztosít.