Legutóbbi keresések
    Sorozat ( találat)
      Modellek ( találat)
        Kulcsszavak
          1. Kezdőlap
          2. Termékek
          3. Mikroszkópok
          4. 3D pásztázó lézermikroszkóp
          5. 3D lézeres, konfokális pásztázó mikroszkóp
          6. Modellek
          7. vezérlő

          3D lézeres, konfokális pásztázó mikroszkópVK-X sorozat

          vezérlő

          VK-X1000

          SPECIFIKÁCIÓK

          Nyelv kiválasztása

          modell

          VK-X1000

          Típus

          vezérlő

          Teljes nagyítás

          Legfeljebb 28 800 ×*1

          Látómező (minimális tartomány)

          11–7398 µm

          Képfrissítés (lézeres mérési sebesség)

          4–125 Hz 7900 Hz*2

          Mérési elv

          Optikai rendszer

          Nyílásos konfokális optikai rendszer, fókuszeltérés

          Fényérzékelő elem

          16 bites érzékenység: fotoszorzó, nagy felbontású színes CMOS

          Szkennelési módszer (általános mérés és képösszetűzés során)

          Felső és alsó határértékek automatikus beállítása, lézer intenzitásának gyors beállítása (AAGII) , automatikus érzékelés és ismételt beolvasás gyenge fényvisszaverés esetén (kettős beolvasás)

          Magasság mérése

          Kijelzési felbontás

          0,5 nm (VK-X1100) , 5 nm (VK-X1050)

          Lineáris skála

          Dinamikus tartomány

          16 bit

          Ismételhetőség σ

          Lézer konfokális

          20×, 40 nm; 50×, 12 nm (VK-X1100)
          20×, 40 nm; 50×, 20 nm (VK-X1050)

          Fókuszeltérés

          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 20 nm (VK-X1100)
          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 30 nm (VK-X1050)

          Magassági adatgyűjtési tartomány

          0,7 millió lépés

          Pontosság

          0,2 + L /100 µm vagy jobb*3

          Szélesség mérése

          Kijelzési felbontás

          1 nm (VK-X1100) , 10 nm (VK-X1050)

          Ismételhetőség 3σ

          Lézer konfokális

          20×, 100 nm; 50×, 40 nm (VK-X1100)
          20×, 100 nm; 50×, 50 nm (VK-X1050)

          Fókuszeltérés

          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 50 nm (VK-X1100)
          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 65 nm (VK-X1050)

          Pontosság

          ±2 %*3

          XY asztali konfiguráció

          Manuális: mozgási tartomány

          70 mm × 70 mm

          Motorizált: mozgási tartomány

          100 mm × 100 mm

          Megfigyelés

          Kép opciók

          Nagy felbontású, színes CMOS-kép; 16 bites, lézeres, színes konfokális kép; konfokális optikai rendszer ND-szűrővel; C lézeres DIC-kép (differenciál interferencia kontrasztos kép)

          Megvilágítás

          Gyűrűs megvilágítás, koaxiális megvilágítás

          Lézeres fényforrás mérésekhez

          Hullámhossz

          Ibolya félvezető lézer, 404 nm (VK-X1100)
          Piros félvezető lézer, 661 nm (VK-X1050)

          Maximális kimeneti teljesítmény

          1 mW

          Lézerbiztonsági osztály

          2. osztályú lézertermék (IEC60825-1)

          Áramellátás

          Tápfeszültség

          100–240 VAC, 50/60 Hz

          Áramfogyasztás

          150 VA

          Tömeg

          Kb. 3,0 kg

          *1 23 hüvelykes teljes képernyős megjelenítés.
          *2 Maximális sebességen a mérési mód/mérési minőség/lencsenagyítás kombinációjának használatakor. Amikor a sorletapogató kamera 0,1 µm mérési távolságon belül van.
          *3 Ha egy normál mintát (szabványos skálát) mérnek 20x objektív (vagy annál nagyobb) lencsével.

          Vissza a tetejére

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Székház:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgium
          Tel: +36 1 802 7360
          E-mail: info@keyence.eu
          Karrierlehetőségek: KEYENCE Karrier

          Mikroszkópok