Legutóbbi keresések
    Sorozat ( találat)
      Modellek ( találat)
        Kulcsszavak
          1. Kezdőlap
          2. Termékek
          3. Mikroszkópok
          4. 3D pásztázó lézermikroszkóp
          5. 3D lézeres, konfokális pásztázó mikroszkóp
          6. Modellek
          7. Mérőegység

          3D lézeres, konfokális pásztázó mikroszkópVK-X sorozat

          Mérőegység

          VK-X260K

          [Megszűnt modell]

          Ez a modell megszűnt.

          A tanúsítási szabványnak való megfelelés a társaságunktól történő szállítás idején biztosított.

          Kapcsolatfelvétel:

          SPECIFIKÁCIÓK

          Nyelv kiválasztása

          modell

          VK-X260K

          Teljes nagyítás

          Legfeljebb 28 000 ×*1

          Látómező (minimális tartomány)

          11–5400 µm

          Képfrissítés

          Lézeres mérési sebesség

          4–120 Hz 7900 Hz*2

          Mérési elvek

          Optikai rendszer

          Nyílásos konfokális optikai rendszer

          Magasság mérése

          Lineáris skála

          0,5 nm

          Ismételhetőség σ

          20×: 40 nm, 50×: 12 nm, 150×: 12 nm*3

          Memória Z-tengely méréséhez

          14 millió lépés

          Pontosság

          0,2 + L /100 µm vagy jobb*4*5

          Szélesség mérése

          Kijelzési felbontás

          1 nm

          Távolságmérés

          Ismételhetőség 3σ

          20×: 100 nm, 50×: 40 nm, 150×: 20 nm*3

          Szélesség mérése

          Pontosság

          ±2%*3

          XY asztali konfiguráció

          Manuális: működési tartomány

          70 mm × 70 mm

          Motorizált: működési tartomány

          50 × 50 mm, 100 × 100 mm*6

          Megfigyelés

          Maximális rögzítési felbontás

          3072×2304

          Súly

          Mikroszkóp

          Kb. 26 kg (szenzorfej nélkül: kb. 10 kg)

          Vezérlő

          Kb. 11 kg

          *1 23 hüvelykes monitorral.
          *2 Maximális sebességen a mérési mód/mérési minőség/lencsenagyítás kombinációjának használatakor. Amikor a sorletapogató kamera 0,1 µm mérési távolságon belül van.
          *3 A referenciaskála 20-szoros (vagy nagyobb) objektívlencsével való, 20 ± 2 °C-os környezeti hőmérséklet melletti mérése esetén. A VK-X120/X130 kivételével 100× objektívlencsével.
          *4 A referenciaskála 20-szoros (vagy nagyobb) objektívlencsével való, 20 ±2 °C-os környezeti hőmérséklet melletti mérése esetén. A VK-X120/X130 kivételével a 100x objektív lencsével.
          *5 L = függőleges mérési hossz µm-ben
          *6 Mozgó tárgyasztallal.

          Letöltések:

          Letöltések

          Vissza a tetejére

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Székház:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgium
          Tel: +36 1 802 7360
          E-mail: info@keyence.eu
          Karrierlehetőségek: KEYENCE Karrier

          Mikroszkópok