Chip illeszkedésének ellenőrzése

Az LJ-X sorozat széles tartományban és nagy pontossággal mér, így egyetlen szkenneléssel több chip helytelen illeszkedését vagy átfedését is ellenőrizni tudja. A pontos és következetes ellenőrzés azért lehetséges, mert a számítások a magassági adatokon alapulnak.

2D/3D lézeres profilmérő

LJ-X8000 sorozat

Vissza a „Termékválaszték iparágak és alkalmazások szerint” oldalra