Magyarország

Napelem szubsztrátumának felületi vizsgálata

A kamerarendszer megvizsgálja a szubsztrátum felületét.

A mikrohibákat vizsgáló 5 millió pixeles felbontású kamera mellett az új, valós idejű árnyékolás-korrekció szűrő és az XG sorozat beépített vizsgáló algoritmusai lehetővé teszik a hibák nagy pontosságú felismerését.

Előny

A mikrohibák 2 megapixeles kamerával végzett vizsgálata a korlátozott felbontás miatt nem adott megfelelő eredményt. Az XG szériás kamerarendszer és egy 5 megapixeles nagy sebességű kamera képes a mikrohibák vizsgálatához szükséges felbontást biztosítani.

Testre szabható képfeldolgozó rendszer