1. Home
  2. Producten
  3. Afmetingensysteem
  4. Optisch meetsysteem
  5. Optisch meetsysteem
  6. Modellen
  7. 200 mm vierkante objecttafel Model met programmeerbare ringverlichtingseenheid /lichtsonde

Optisch meetsysteemIM-8000 Reeks

200 mm vierkante objecttafel Model met programmeerbare ringverlichtingseenheid /lichtsonde

IM-8020

SPECIFICATIES

Selecteer taal

Model

IM-8020

Type

Meetunit

Beeldsensor

1" 20-megapixel monochroom CMOS

Beeldscherm

12,1" LCD-beeldscherm (WXGA: 1280 × 800)

Lichtopvangende lens

Dubbele telecentrische lens

Optische meting

Gezichtsveld

Meetmodus met breed veld

200 × 200 mm (4 × R50)

Meetmodus met hoge precisie

125 × 125 mm

Minimum weergave-eenheid

0,1 μm

Herhaalbaarheid

Meetmodus met breed veld

Zonder verplaatsing van objecttafel

±1 μm

Met verplaatsing van objecttafel

±2 μm

Meetmodus met hoge precisie

Zonder verplaatsing van objecttafel

±0,5 μm

Met verplaatsing van objecttafel

±1,5 μm

Meetnauwkeurigheid (±2σ)

Meetmodus met breed veld

Zonder binding

±3,9 μm *1

Met binding

±(7 + 0,02 L) μm *2

Meetmodus met hoge precisie

Zonder binding

±2 μm *3

Met binding

±(4 + 0,02 L) μm *4

Meting van buitendiameter

Meetnauwkeurigheid

Meetmodus met breed veld

±(2,8 + 0,02 D) μm *5

Meetmodus met hoge precisie

±(1,4 + 0,04 D) μm *6

Meting met lichtsonde

Meetbaar gebied (XY)

90 × 90 mm

Maximale meetdiepte

30 mm

Diameter lichtsonde

ø3 mm

Meetkracht

0,015 N

Herhaalbaarheid

±2 μm *7

Meetnauwkeurigheid

±(8 + 0,02 L) μm *8

Externe invoer op afstand

Niet-spanningsingang (met en zonder contact)

Externe uitgang

OK/NG/FAIL/MEAS.

PhotoMos-uitgang
Nominale belasting: 24 VDC 0,5 A
AAN-weerstand: 50 mΩ of lager

Interface

LAN

RJ-45 (10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-T)

USB 3.1

4 poorten (achterzijde: 4)

USB 2.0 serie A

4 poorten (voorzijde: 2, achterzijde: 2)

Monitoruitgang

DVI-D

Opslaan

Harde-schijfstation

500 GB

Verlichtingssysteem

Transparant

Telecentrische transparante verlichting

Ring

Vierdeling, meerhoekige verlichting (elektrisch), Spleetringverlichting (richtingsgevoelig) verlichting (elektrisch)

XY-objecttafel

Bewegingsbereik

100 × 100 mm (elektrisch)

Weerstandscapaciteit

5 kg

Z-objecttafel

Bewegingsbereik

75 mm (elektrisch)

Voeding

Spanning

100 tot 240 VAC ±10%, 50/60 Hz

Stroomverbruik

430 VA of lager

Omgevingsbestendigheid

Omgevingstemperatuur

+10 tot 35°C

Omgevingsvochtigheid

20 tot 80% RV (geen condensatie)

Overspanningscategorie

II

Verontreinigingsgraad

2

Gewicht

Ongeveer 30 kg

*1 In het bereik van ø80 mm, binnen het bereik van de omgevingstemperatuur van +23 ±1°C op het brandpunt.
*2 In het bereik van 180 × 180 mm (4 × R40), binnen het bereik van de omgevingstemperatuur van +23 ±1°C op het brandpunt, en met een belasting van 2 kg of minder op de objecttafel. L is de hoeveelheid beweging van de objecttafel (in mm).
*3 In het bereik van ø20 mm, binnen het bereik van de omgevingstemperatuur van +23 ±1°C op het brandpunt.
*4 In het bereik van 120 × 120 mm, binnen het bereik van de omgevingstemperatuur van +23 ±1°C op het brandpunt, en met een belasting die 2 kg of minder op de objecttafel weegt. L is de hoeveelheid beweging van de objecttafel (in mm).
*5 Binnen het bereik van L 118 mm × ø60 mm. Op het brandpunt, met het onderdeel in het midden van het gezichtsveld van de lens, en met de asrichting van het onderdeel in de horizontale richting van het gezichtsveld van de lens. Binnen het bereik van de omgevingstemperatuur van +23 ±1°C. D is de Y-richtingsafstand (in mm).
*6 Binnen het bereik van L 106 mm × ø20 mm. Op het brandpunt, met het onderdeel in het midden van het gezichtsveld van de lens, en met de asrichting van het onderdeel in de horizontale richting van het gezichtsveld van de lens. Binnen het bereik van de omgevingstemperatuur van +23 ±1°C. D is de Y-richtingsafstand (in mm).
*7 Wanneer het detectiesysteem standaard is. Als het detectiesysteem op een diepe positie staat, ±3 μm.
*8 Als het detectiesysteem standaard is, binnen het omgevingstemperatuurbereik van +23 ±1°C, en met een belasting van 2 kg of minder op de objecttafel. Als het detectiesysteem op een diepe positie staat, ±(10 + 0,02 L) μm met L als meetlengte (in mm).

Afmetingensysteem