Lezen van frame-ID

In het productieproces van halfgeleiders is het nauwkeurig lezen van de frame-ID die op een waferring (dicing frame) is gemarkeerd, cruciaal voor het waarborgen van traceerbaarheid en een grondige kwaliteitscontrole. Een veelvoorkomend probleem was echter dat ID-codes bekrast of geschaafd raakten wanneer de ringen werden gestapeld voor opslag en transport, wat leidde tot frequente leesfouten met conventionele codelezers. Deze leesfouten zijn een ernstig probleem dat direct leidt tot stilstand van de productielijn en een verminderd rendement.

De 1D/2D-codelezer uit de SR-2000-reeks van KEYENCE lost dit probleem op. Uitgerust met een eigen, geavanceerd leesalgoritme en krachtige beeldcorrectiefuncties, kan het zelfs uitdagende codes onder ongunstige omstandigheden zoals krassen, vuil en een laag contrast onmiddellijk en stabiel lezen. Dit vermindert het risico op lijnstilstand door leesfouten aanzienlijk en draagt in grote mate bij aan een verbeterde productiviteit.

Bovendien ondersteunt de SR-2000-reeks een ultrabreed zichtveld en lezen op lange afstand, waardoor het ID's betrouwbaar kan vastleggen, zelfs in omgevingen waar de afstand tot en de positie van het doel kunnen variëren. De grote installatievrijheid maakt het eenvoudig om het achteraf in te bouwen in bestaande apparatuur, wat nauwkeurig beheer van individuele items en verbeterde traceerbaarheid in de halfgeleiderproductie mogelijk maakt.