Inspectie van defecten/blaren op IC-mallen

Bij conventionele systemen wordt de inspectie beïnvloed door schittering en de oppervlaktetextuur van het doel. LumiTrax™ maakt het mogelijk om alleen lijnvlekken en gebreken te detecteren.

Defect beeld

LumiTrax™-beeld

Visiesysteem met ingebouwde AI

VS-reeks

Terug naar 'Selecteren van product per bedrijfstak en toepassing'