International Belgium

Positiedetectie van wafer-nokken

Position detection of wafer notches

Het visiesysteem detecteert de draaipositie van wafer-nokken.

De resolutie van de 5 Megapixel camera en de ingebouwde algoritmes van het Trend Edge Stain gereedschap maken het mogelijk stabiel de nok te detecteren en de positie en gegevens in verband met de afmetingen uit te voeren.

Voordeel

Een 2 Megapixel camera werd gebruikt om de positie van de nok te detecteren, maar de herhaalbaarheid van de camera was niet stabiel. Door het implementeren van een systeem van de XG reeks, een 5 Megapixel high-speed camera en het nieuwe Trend Edge Stain-gereedschap, werd de nok stabiel gelokaliseerd.

TOON DE DETAILS VAN HET PRODUCT