Mikroskop s 3D laserovým skenováním Řada VK-X3000

3D povrchový profilometr řady VK-X3000 využívá trojí přístup ke skenování, u kterého se podle situace použije laserová konfokální metoda, metoda s proměnlivým ohniskem nebo metoda interferometrie bílého světla, což zajišťuje vysoce přesné měření a analýzu nejrůznějších objektů. Maximální rozlišení 0,01 nm zajišťuje přesné měření odchylek tvaru v řádu nanometrů. Okamžitě můžete skenovat oblasti o velikosti až 50 × 50 mm, objekty o velikosti lidské dlaně nebo takové, které mají velké výškové rozdíly, a získat tak rychlou analýzu jak celkového tvaru, tak konkrétních oblastí. Navíc lze rychle, s vysokou přesností a na velkých oblastech měřit i obtížné materiály, například objekty s transparentními nebo zrcadlovými povrchy. Tento zbrusu nový laserový mikroskop dokáže pracovat s jakýmkoli objektem při velkém i malém zvětšení a při jakékoli drsnosti povrchu (ploché či nerovnoměrné povrchy), a to i když je povrch transparentní nebo zrcadlový.