Poslední vyhledávání
    Řada ( výsledků)
      Modely ( výsledků)
        Klíčová slova
          1. Domů
          2. Produkty
          3. Mikroskopy
          4. Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním
          5. Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním
          6. Modely
          7. Řídicí jednotka

          Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenovánímŘada VK-X

          Řídicí jednotka

          VK-X1000

          SPECIFIKACE

          Vybrat jazyk

          Model

          VK-X1000

          Typ

          řídicí jednotka

          Celkové zvětšení

          Až 28 800x*1

          Zorné pole (minimální rozsah)

          11 až 7398 µm

          Počet snímků za sekundu (rychlost laserového měření)

          4 až 125 Hz, 7 900 Hz*2

          Princip měření

          Optický systém

          Štěrbinový konfokální optický systém, proměnlivost ohniska

          Osvětlený prvek

          16bitové snímání: fotonásobič, barevný snímač CMOS s vysokým rozlišením

          Metoda skenování (během obecného měření a spojování obrazu)

          Automatické nastavení horní/dolní meze, rychlé nastavení intenzity laserového světla (AAGII), automatická detekce a opětovné skenování v případě špatného odrazu (dvojité skenování)

          Měření výšky

          Rozlišení displeje

          0,5 nm (VK-X1100), 5 nm (VK-X1050)

          Lineární stupnice

          Dynamický rozsah

          16 bitů

          Opakovatelnost σ

          Laser konfokální

          20x, 40 nm; 50x, 12 nm (VK-X1100)
          20x, 40 nm; 50x, 20 nm (VK-X1050)

          Proměnlivost ohniska

          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 20 nm (VK-X1100)
          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 30 nm (VK-X1050)

          Rozsah pořizování dat výšky

          0,7 milionu kroků

          Přesnost

          0,2 + L / 100 µm nebo lepší*3

          Měření šířky

          Rozlišení displeje

          1 nm (VK-X1100), 10 nm (VK-X1050)

          Opakovatelnost 3σ

          Laserový konfokální

          20x, 100 nm; 50x, 40 nm (VK-X1100)
          20x, 100 nm; 50x, 50 nm (VK-X1050)

          Odchylka zaostření

          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 50 nm (VK-X1100)
          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 65 nm (VK-X1050)

          Přesnost

          ±2 %*3

          Konfigurace stojanu XY

          Ruční: Rozsah pohybu

          70 mm x 70 mm

          Automatická: Rozsah pohybu

          100 mm x 100 mm

          Pozorování

          Možnosti obrazu

          Barevný CMOS s vysokým rozlišením 16bitový laserový barevný konfokální obraz Konfokální optický systém s ND filtrem C-laser DIC (diferenciální interferenční obraz)

          Osvětlení

          Kruhové osvětlení, koaxiální osvětlení

          Laserový světelný zdroj pro měření

          Vlnová délka

          Fialový polovodičový laser, 404 nm (VK-X1100)
          Červený polovodičový laser, 661 nm (VK-X1050)

          Maximální výkon

          1 mW

          Třída laseru

          Laserový produkt třídy 2 (IEC60825-1)

          Napájecí zdroj

          Napájecí napětí

          100 až 240 V AC 50/60 Hz

          Spotřeba proudu

          150 VA

          Hmotnost

          Cca 3,0 kg

          *1 23palcový celoobrazovkový displej.
          *2 Při maximální rychlosti a při použití kombinace režimu měření/kvality měření/zvětšení objektivu. Je-li skenování výrobních linek v rozsahu rozteče měření 0,1 µm.
          *3 Při měření standardního vzorku (standardní stupnice) s čočkou objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším).

          Zpět nahoru

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Sídlo společnosti:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgie
          Tel (Česká republika): +420 220 184 700
          Tel (Slovensko): +421 (0) 2 5939 6461
          E-mail: info@keyence.eu
          Nabídka zaměstnání: Kariérní portál KEYENCE

          Mikroskopy