Poslední vyhledávání
    Řada ( výsledků)
      Modely ( výsledků)
        Klíčová slova
          1. Domů
          2. Produkty
          3. Mikroskopy
          4. Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním
          5. Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenováním
          6. Modely
          7. Měřicí jednotka

          Konfokální mikroskop s 3D laserovým skenovánímŘada VK-X

          Měřicí jednotka

          VK-X160K

          [Již nevyráběný model]

          Výroba tohoto modelu byla ukončena.

          Naše společnost během přepravy zboží zajištuje certifikační standard.

          Kontaktujte nás:

          SPECIFIKACE

          Vybrat jazyk

          Model

          VK-X160K

          Celkové zvětšení

          Až 19 200x*1

          Zorné pole (minimální rozsah)

          16 až 5400 µm

          Počet snímků za sekundu

          Rychlost laserového měření

          4 až 120 Hz, 7 900 Hz*2

          Principy měření

          Optický systém

          Štěrbinový konfokální optický systém

          Měření výšky

          Lineární stupnice

          5 nm

          Opakovatelnost σ

          20x: 40 nm, 50x: 20 nm, 100x: 20 nm *3

          Paměť měření osy Z

          1,4 milionu kroků

          Přesnost

          0,2 + L / 100 µm nebo lepší*4*5

          Měření šířky

          Rozlišení displeje

          10 nm

          Opakovatelnost 3σ

          20x: 100 nm, 50x: 50 nm, 100x: 30 nm *3

          Přesnost

          ±2 %*6

          Konfigurace stojanu XY

          Ruční: Provozní rozsah

          70 mm x 70 mm

          Automatická: Provozní rozsah

          50 x 50 mm, 100 x 100 mm*7

          Pozorování

          Maximální rozlišení snímání

          3072×2304

          Hmotnost

          Mikroskop

          Cca 25 kg (bez hlavy senzoru, cca 8,5 kg)

          Řídicí jednotka

          Cca 11 kg

          *1 S 23palcovým monitorem.
          *2 Při maximální rychlosti a při použití kombinace režimu měření / kvality měření / zvětšení objektivu. Je-li skenování výrobních linek v rozsahu rozteče měření 0,1 µm.
          *3 Při měření referenční stupnice pomocí čočky objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším) při okolní teplotě 20 ± 2 °C. S výjimkou VK-X120/X130 s čočkou objektivu se zvětšením 100x.
          *4 Při měření referenční stupnice pomocí čočky objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším) při okolní teplotě 20 ± 2 °C. S výjimkou modelu VK-X120/X130 s čočkou objektivu se zvětšením 100x.
          *5 L = svislá naměřená délka v µm
          *6 Při měření referenční stupnice s čočkou objektivu se zvětšením 20x (nebo vyšším) při okolní teplotě 20 ± 2 °C. S výjimkou VK-X120/X130 s čočkou objektivu se zvětšením 100x.
          *7 S motorizovanou podložkou.

          Ke stažení:

          Zpět nahoru

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Sídlo společnosti:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgie
          Tel (Česká republika): +420 220 184 700
          Tel (Slovensko): +421 (0) 2 5939 6461
          E-mail: info@keyence.eu
          Nabídka zaměstnání: Kariérní portál KEYENCE

          Mikroskopy