Mikroskop s 3D laserovým skenováním

Řada VK-X3000

Katalogy Zobrazit katalog

Mikroskop s 3D laserovým skenováním Řada VK-X3000

Vestavěný interferometr s bílým světlem umožňuje měřit v rozsahu od nanometrů po milimetry bez slepých míst

  • Maximální rozlišení 0,01 nm

Zobrazit katalog

Řada VK-X3000 - Mikroskop s 3D laserovým skenováním

3D povrchový profilometr řady VK-X3000 využívá trojí přístup ke skenování, u kterého se podle situace použije laserová konfokální metoda, metoda s proměnlivým ohniskem nebo metoda interferometrie bílého světla, což zajišťuje vysoce přesné měření a analýzu nejrůznějších objektů. Maximální rozlišení 0,01 nm zajišťuje přesné měření odchylek tvaru v řádu nanometrů. Okamžitě můžete skenovat oblasti o velikosti až 50 × 50 mm, objekty o velikosti lidské dlaně nebo takové, které mají velké výškové rozdíly, a získat tak rychlou analýzu jak celkového tvaru, tak konkrétních oblastí. Navíc lze rychle, s vysokou přesností a na velkých oblastech měřit i obtížné materiály, například objekty s transparentními nebo zrcadlovými povrchy. Tento zbrusu nový laserový mikroskop dokáže pracovat s jakýmkoli objektem při velkém i malém zvětšení a při jakékoli drsnosti povrchu (ploché či nerovnoměrné povrchy), a to i když je povrch transparentní nebo zrcadlový.

Vlastnosti

Základní charakteristika

Pozorování

Rozsáhlé pokrytí rozsahu zvětšení v jednom přístroji

  • Zvětšení 42× až 28800×
  • Automatické zaostření
  • Pozorování libovolného materiálu

Měření

Okamžité, bezkontaktní měření povrchu

  • Bez poškození cílového objektu
  • Přesná měření na nanoúrovni
  • Kompatibilní s jakýmkoli tvarem nebo materiálem

Analýza

Jedinečná charakterizace povrchu

  • Kvantifikace i těch nejdetailnějších tvarů
  • Snadné rozlišení povrchů
  • Analýza drsnosti

Díky trojímu přístupu ke skenování dokáže změřit cokoli

Interferometrie bílého světla / Laserové konfokální / Proměnlivé ohnisko

K dispozici jsou tři různé metody skenování: laserové konfokální, s proměnlivým ohniskem a pomocí interferometrie bílého světla. Volba nejlepší metody pro materiál a tvar objektu a rozsah měření zajišťuje vysokou přesnost měření.

Maximální rozlišení 0,01 nm

Odchylky tvaru můžete přesně měřit v řádu nanometrů.
Navíc lze rychle, s vysokou přesností a na velkých oblastech měřit i obtížné materiály, například objekty s transparentními nebo zrcadlovými povrchy.

Je možné měřit velké oblasti a nerovnoměrné povrchy s obrovskými výškovými rozdíly

Okamžitě můžete skenovat oblasti o velikosti až 50 × 50 mm, objekty o velikosti lidské dlaně nebo takové, které mají velké výškové rozdíly, a získat tak rychlou analýzu jak celkového tvaru, tak konkrétních oblastí.

Měří ploché a nerovnoměrné povrchy při velkém i malém zvětšení

Účinnost měření umožňuje pozorovat rozmanité objekty.