Kontrola deformace a zbytků čipů na vypalovacích podložkách

Díky rozsahu měření až 640 × 640 mm dokáže řada LJ-S8000 spolehlivě detekovat prohnutí podložky a zbytky čipů, které by obsluha mohla přehlédnout. Podporuje tak prediktivní údržbu a přispívá ke zlepšení efektivity.

OK

NG

3D laserový skener

Řada LJ-S8000

Zpět na „Výběr produktu podle odvětví a aplikace“