Měření odchylky plošného materiálu
Měření úhlu zakřivení
Šířku a úhel odchylky lze měřit pomocí několika senzorů a bez PC.
- Výhoda
-
S vysokou přesností i rychlostí lze současně kontrolovat úhel zakřivení a šířku výrobku. Nejen šířku, ale i vedení okrajů.
ZJISTIT PODROBNOSTI O PRODUKTU
- Řada LS-9000
Optický mikrometr s mimořádně vysokou rychlostí a přesností -
Nový, vysoce přesný optický mikrometr, který automaticky opravuje chybné zarovnání a vibrace cílů.
- Řada LS-9000
- Řada LS-7000
Digitální mikrometr s vysokou rychlostí a přesností -
Průlomová technologie inteligentního optického mikrometru s vysokým rozlišením 0,01 mikronu a vysokou rychlostí 2400 vzorků za sekundu.
- Řada LS-7000
- Řada LS-5000Výroba ukončena
Vysokorychlostní laserový skenovací mikrometr -
Vysokorychlostní laserový skenovací mikrometr, který zvládne pracovat až se čtyřmi snímacími hlavami a jednou řídicí jednotkou. Zajišťuje submikronová měření při rychlosti výrobní linky.
Katalogy
Technické příručky
- Řada LS-5000Výroba ukončena
- Řada LS-3000Výroba ukončena
Laserový skenovací mikrometr -
Laserové skenovací zařízení pro měření vnějšího průměru, které může měřit i velké průměry
KatalogyTechnické příručky
- Řada LS-3000Výroba ukončena
