Kontrola povrchu substrátu solárních baterií

Systém strojového vidění kontroluje povrch substrátu.

Kromě rozlišení 5 miliónů pixelů je kamera řady XG vybavena novým filtrem pro vylepšení obrazu pro korekci stínování v reálném čase a zabudovanými detekčními algoritmy, což umožňuje vysokou přesnost při detekci mikrovad a nedostatků.

Výhoda

Kontrola mikrovad pomocí dvoumegapixelové kamery nepřinášela úspěšné výsledky, neboť toto rozlišení mělo svá omezení. Pětimegapixelová vysokorychlostní kamera systému řady XG je vybavena dostatečným rozlišením, které je ke kontrole mikrovad zapotřebí.

ZJISTIT PODROBNOSTI O PRODUKTU