Atomerő-mikroszkópok (AFM)
![](/huhu/Images/ss_microscope_glossary_ot_atomic_force_microscopes_001_2008228.jpg)
Olyan pásztázó szondás mikroszkóp, amely a céltárgy méréséhez egy mechanikus szondát mozgat végig a felületen. A rendszer nanométeres nagyságrend alatt is képes nagy felbontású adatokat biztosítani.
Olyan pásztázó szondás mikroszkóp, amely a céltárgy méréséhez egy mechanikus szondát mozgat végig a felületen. A rendszer nanométeres nagyságrend alatt is képes nagy felbontású adatokat biztosítani.